綜合物理性質測量系統

綜合物理性質測量系統是一種用於力學、物理學領域的計量儀器，於2014年3月12日啟用。

基本介紹

• 中文名：綜合物理性質測量系統
• 產地：美國
• 學科領域：力學、物理學
• 啟用日期：2014年3月12日
• 所屬類別：計量儀器 > 電磁學計量儀器 > 磁通量具標準裝置

技術指標

1.9K – 400K 連續變溫 1.9 -400 K任意溫度穩定，精度0.01 K -9T ~ +9T 連續可控磁場 VSM 測量標樣誤差為0.5%。

主要功能

主要用途：提供強磁場（～9 T），低溫（2 K）平台; 通過不同的選件，可以實現磁、電、比熱方面的測量。