紫外紅外可見分光光度計

紫外紅外可見分光光度計是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器，於2005年9月28日啟用。

基本介紹

• 中文名：紫外紅外可見分光光度計
• 產地：美國
• 學科領域：電子與通信技術
• 啟用日期：2005年9月28日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 紫外可見分光光度計

技術指標

掃描波段180nm-3200nm,精度1nm。

主要功能

測光學元件反射率透射率以及光電材料吸收率。