《納米顯微光學檢測方法和成像系統的研究》是依託北京航空航天大學，由商廣義擔任項目負責人的專項基金項目。
基本介紹
- 中文名：納米顯微光學檢測方法和成像系統的研究
- 依託單位：北京航空航天大學
- 項目負責人：商廣義
- 項目類別：專項基金項目
- 批准號：10827403
- 申請代碼：A2210
- 負責人職稱：研究員
- 研究期限：2009-01-01 至 2011-12-31
- 支持經費：100（萬元）
項目摘要
發展和建立納米顯微光學檢測方法和成像系統，將原子力顯微鏡和切變力顯微鏡與外差雷射干涉儀相結合，採用z-向調製的方式提取探針針尖散射光信號和抑制遠場雜散光，重點發展基於切變力檢測的z-向調製方法；同時獲取表面微觀形貌、光學振幅和相點陣圖像，圖像的空間解析度達到10-20nm，具有目前國外實驗室的同樣水平；分析探針調製振幅和頻率對圖像的影響以及獲得純近場光學圖像的條件；探討探針針尖幾何形狀對光場增強的影響；開展探索性研究，如：一維碳納米管的光學性質檢測，偏振在磁光和電光材料納米檢測中的套用，光學探針增強機理等；為在納米或分子層次上，開展物質結構和光學性質的檢測與表征提供實驗基礎。
