《納米單晶電子衍射儀儀器設備的研究開發與套用》是依託浙江大學，由李吉學擔任項目負責人的專項基金項目。
基本介紹
- 中文名：納米單晶電子衍射儀儀器設備的研究開發與套用
- 依託單位：浙江大學
- 項目負責人：李吉學
- 項目類別：專項基金項目
項目摘要,結題摘要,
項目摘要
為解決目前納米尺寸晶體材料的單晶結構解析難題，本項目旨在發展一種可用於納米尺寸晶體材料的單晶衍射數據採集設備。透射電子顯微鏡具備觀察納米尺寸晶體的先天優勢，選區或納米電子衍射功能可實現對納米尺寸晶體的電子衍射分析。利用程式控制電子束的傾轉可實現高精度的小角度傾轉，利用程式控制樣品台可實現對晶體的大角度傾轉。通過透射電子顯微鏡的圖像與衍射工作模式之間的切換，數字相機可以在圖像模式下對晶體傾轉過程中的位置變化進行跟蹤，而在衍射模式下採集晶體的衍射數據，從而實現納米尺寸晶體的三維電子衍射數據的自動採集。本項嬸棄虹目付蘭邀虹去棄膠將對透射電子顯微講整譽擊鏡加以改裝，製造一種可用於納米尺寸晶體單晶電子衍射數據採集的新型設備——納米單晶電子衍腳厚閥射儀。
結題摘要
結構解析是研究材料性質最關鍵的一步。目前套用最廣泛的X射線衍射方法由於受到衍射峰疊加以及晶體尺寸等的限制，使得納米晶體材料的結構解析成為一大難題。而電子衍射方法則能克服這些困難。本項目主要研究內容及成果為：基於電子顯微學最新發展的旋進電子衍射原理，在透射電子顯微鏡（透射電鏡）中成功研發出了用於納米尺寸單晶體材料的3維(3D)單晶電子衍射譜數據全自動採集、數據處理、納米單晶結構解析的儀器設備：納米單晶電子衍射儀。目前該設備成功完成對樣品圖像及衍射譜的自動化託管數據收集；茅紋採用相關法，保證了50納米以內直徑納米晶體在數據收集過程中全自動跟蹤，並對10納米左右的樣品仍然能夠很好的進行圖像的漂再遷試移校正；本套設備使用網路接口進行儀器控制與數據傳輸，對原透射電鏡不造成任何影響；衍射儀已經成功在JEOL和FEI兩家公司生產的透射電鏡上安裝運行，並且對不同機型設計了大角度傾轉樣品桿（±70°）；多次試驗結果證明該設備能夠準確確定樣品的晶體結構，並取得了一定科研成果。該套設備的成功研發，不僅能解決納米材料領域的結構解析難題，並且在晶體缺陷及物相分析等領域具有很大的套用前景。
