紅外顯微測試系統

紅外顯微測試系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器，於2016年9月27日啟用。

基本介紹

• 中文名：紅外顯微測試系統
• 產地：美國
• 學科領域：化學、材料科學
• 啟用日期：2016年9月27日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 紅外光譜儀

技術指標

解析度：0.1波數；靈敏度：儀器在達到ASTM標準性度優於0.07%T的條件下，峰峰值信噪比5秒鐘4波數測量，13,000:1，1分鐘4波數測量優於55，000:1噪音峰峰值小於7.89e-6Abs；測試範圍：中紅外400-4000波數。

主要功能

紅外光譜檢測分析/套用波長範圍：中紅外400-4000波數。