紅外波段光螢光測試系統

紅外波段光螢光測試系統是一種用於物理學、電子與通信技術領域的物理性能測試儀器，於2015年12月28日啟用。

基本介紹

• 中文名：紅外波段光螢光測試系統
• 產地：美國
• 學科領域：物理學、電子與通信技術
• 啟用日期：2015年12月28日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 光電測量儀器

技術指標

紅外測試波段1-3.5微米。

主要功能

紅外波段光螢光測試。