積體電路邏輯測試系統

積體電路邏輯測試系統是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器，於2005年11月25日啟用。

基本介紹

• 中文名：積體電路邏輯測試系統
• 產地：日本
• 學科領域：電子與通信技術
• 啟用日期：2005年11月25日
• 所屬類別：電子測量儀器 > 大規模積體電路測試儀器 > 模擬電路測試系統

技術指標

測試頻率 10MHzIO通道 128pins。

主要功能

積體電路測試。