積體電路測試指南

積體電路測試指南

《積體電路測試指南》是由2021年6月機械工業出版社出版的圖書。

基本介紹

  • 中文名:積體電路測試指南
  • 作者:加速科技 編
  • 出版時間:2021年6月
  • 出版社:機械工業出版社
  • ISBN:9787111683926
作品簡介,作品目錄,

作品簡介

作者通過分享自身經驗,為讀者提供一本以工程實踐為主的積體電路測試參考書。本書分為五篇共10章節來介紹實際晶片驗證及量產中半導體積體電路測試的概念和知識。第1篇由第1章和第2章組成,從測試流程和測試相關設備開始,力圖使讀者對於積體電路測試有一個整體的概念。第二篇由第3~5章組成,主要講解半導體積體電路的自動測試原理。第三篇開始進入工程實踐部分,本篇由第6章的集成運算放大器晶片和第7章的電源管理晶片測試原理及實現方法等內容構成。通過本篇的學習,讀者可以掌握一般模擬晶片的測試方法。第四篇為數字積體電路的具體實踐。我們選取了市場上套用需求量大的存儲晶片(第8章)和微控制器晶片(第9章),為讀者講述其測試項目和相關測試資源的使用方法。第五篇即第10章節,使讀者了解混合信號測試的實現方式,為後續的進階打下一個堅實的基礎。
本書主要的客群是想要或即將成為積體電路測試工程師的讀者,我們假設讀者已經學習過相應的基礎課程,主要包括電路分析、模擬電子技術、數字電子技術、信號與系統、數位訊號處理以及電腦程式設計語言。通過本書的學習,讀者將對半導體積體電路測試有一個總體的概念,並可以掌握能直接套用到工作中的實戰技術,並藉此以“術”入“道”。對於已經從事半導體積體電路測試的工程技術人員、積體電路產品工程師、設計工程師,本書也具有一定的參考意義。

作品目錄

序一
序二
序三
前言
第一篇 積體電路測試及測試系統簡介
第1章 積體電路測試簡介
1.1 積體電路測試的分類
1.2 IC測試項目
1.3 產品手冊與測試計畫
1.4 測試程式
第2章 積體電路測試系統
2.1 模擬IC測試系統
2.2 數字IC測試系統
2.3 混合IC測試系統
2.4 ST2500高性能數模混合測試系統
2.5 ST-IDE軟體系統
2.6 積體電路測試工程師實訓平台
第二篇 積體電路基本測試原理
第3章 直流及參數測試
3.1 開短路測試
3.2 漏電流測試
3.3 電源電流測試
3.4 直流偏置與增益測試
3.5 輸出穩壓測試
3.6 數字電路輸入電平與輸出電平測試
第4章 數字電路功能及交流參數測試
4.1 測試向量
4.2 時序的設定
4.3 引腳電平的設定
4.4 動態負載測量開短路
第5章 混合信號測試基礎
5.1 時域與頻域分析
5.2 採樣
5.3 DAC的靜態參數測試
5.4 ADC的靜態參數測試
5.5 ADC/DAC的動態參數測試
第三篇 模擬積體電路測試與實踐
第6章 集成運算放大器測試與實踐
6.1 集成運算放大器的基本特性
6.2 集成運算放大器的特徵參數測試方法
6.3 集成運算放大器測試計畫及硬體資源
6.4 測試程式開發
6.5 程式調試及故障定位
6.6 測試總結
第7章 電源管理晶片測試與實踐
7.1 電源管理晶片原理與基本特性
7.2 LDO特徵參數測試方法
7.3 電源管理晶片測試計畫及硬體資源
7.4 測試程式開發
7.5 程式調試及故障定位
7.6 測試總結
第四篇 數字積體電路測試與實踐
第8章 存儲器測試與實踐
8.1 EEPROM原理與基本特徵
8.2 EEPROM特徵參數測試方法
8.3 EEPROM測試計畫及硬體資源
8.4 測試程式開發
8.5 程式調試及故障定位
8.6 測試總結
第9章 MCU測試與實踐
9.1 MCU原理與基本特徵
9.2 MCU特徵參數測試方法
9.3 MCU測試計畫及硬體資源
9.4 測試程式開發
9.5 程式調試及故障定位
9.6 測試總結
第五篇 混合積體電路測試與實踐
第10章 ADC測試
10.1 ADC原理及基本特徵
10.2 ADC晶片特徵參數及測試方法
10.3 ADC晶片測試計畫及硬體資源
10.4 測試程式開發
10.5 程式調試及故障定位
10.6 測試總結
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