礦物的高分辨電子顯微鏡研究是由中國科學院物理研究所完成的科技成果,登記於1998年10月31日。
基本介紹
- 中文名:礦物的高分辨電子顯微鏡研究
- 類別:科技成果
- 完成單位:中國科學院物理研究所
- 登記時間:1998年10月31日
成果信息
成果名稱 | 礦物的高分辨電子顯微鏡研究 |
成果完成單位 | 中國科學院物理研究所 |
批准登記單位 | 北京市科學技術委員會 |
登記日期 | 1998-10-31 |
成果登記年份 | 1998 |
礦物的高分辨電子顯微鏡研究是由中國科學院物理研究所完成的科技成果,登記於1998年10月31日。
成果名稱 | 礦物的高分辨電子顯微鏡研究 |
成果完成單位 | 中國科學院物理研究所 |
批准登記單位 | 北京市科學技術委員會 |
登記日期 | 1998-10-31 |
成果登記年份 | 1998 |
礦物的高分辨電子顯微鏡研究是由中國科學院物理研究所完成的科技成果,登記於1998年10月31日。成果信息成果名稱礦物的高分辨電子顯微鏡研究成果完成單位中國科學院物理研究所批准登記單位北京市科學技術委員會登記日期1998-...
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電子顯微鏡分析 常用的儀器有透射電鏡(TEM)、掃描電鏡(SEM)、電子探針(EPMA)等。前兩種電鏡以成像放大倍數大、分辨率高為主要特點,尤其掃描電鏡以聚焦景深大、形貌立體感強為特色,它們是研究礦物或物質形貌、超顯微結構、變形結構(如錯位)的理想工具。而電子探針是用以定量分析微區化學成分的儀器。X射線物相分析 對...
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