矽材料檢測技術

矽材料檢測技術

《矽材料檢測技術》是2009年08月化學工業出版社出版的圖書,作者是康偉超。

基本介紹

  • 書名:矽材料檢測技術
  • 作者:康偉超
  • ISBN:9787122055682
  • 定價:27.00 元
  • 出版社化學工業出版社
  • 出版時間:2009年08月
  • 開本:16開
內容簡介,圖書目錄,

內容簡介

《矽材料檢測技術》主要介紹了半導體矽材料常規電學參數的物理測試
矽材料檢測技術
方法、檢測晶體缺陷的化學腐蝕法、半導體晶體定向法、矽單晶中氧和碳含量的測定方法。《矽材料檢測技術》還介紹了多晶矽中基硼、基磷含量的檢驗方法、純水的製備及高純分析方法。
為了確保測試數據的準確性,對矽材料常規物理參數測試的測準條件作了詳細的分析介紹。對先進的測試技術作了一般的介紹。《矽材料檢測技術》是矽材料技術專業的核心教材。
《矽材料檢測技術》可作為高職高專矽材料技術及光伏專業的教材,同時也可作為中專、技校和從事單晶矽生產的企業員工的培訓教材,還可供相關專業工程技術人員學習參考。

圖書目錄

第1章矽單晶常規電學參數的物理測試1
11半導體矽單晶導電類型的測量1
12半導體矽單晶電阻率的測量7
1.3 非平衡少數載流子壽命的測量19
本章小結37
習題37
第2章化學腐蝕法檢測晶體缺陷38
21半導體晶體的電化學腐蝕機理及常用腐蝕劑38
22半導體單晶中的缺陷42
23矽單晶中位錯的檢測49
24矽單晶中漩渦缺陷的檢測55
25化學工藝中的安全知識61
26金相顯微鏡簡介62
本章小結63
習題64
第3章半導體晶體定向65
31晶體取向的表示方法65
32光圖定向72
33X射線定向76
本章小結88
習題88
第4章紅外吸收法測定矽單晶中的氧和碳的含量、多晶矽中基硼、基磷含量的檢驗89
41測量原理89
42測試工藝和方法93
43測準條件分析95
44多晶矽中基硼、基磷含量的檢驗97
本章小結99
習題100
第5章純水的檢測101
51純水在半導體生產中的套用101
52離子交換法製備純水的原理102
53離子交換法製備純水105
54純水製備系統主要設備及工作原理107
55純水製備系統運行控制115
56純水製備系統的清洗116
57高純水的檢測119
本章小結121
習題121
第6章高純分析方法122
61三氯氫矽中痕量雜質的化學光譜測定122
62三氯氫矽(四氯化矽)中硼的分析124
63三氯氫矽(四氯化矽)中痕量磷的氣相色譜測定126
64工業矽中鐵、鋁含量的測定128
65露點法測定氣體中的水分131
66氣相色譜法測定乾法H2的組分133
67氯化氫中水分的測定136
68液氯中水分的測定137
本章小結138
習題138
第7章其他物理檢測儀器簡介139
71X射線形貌技術139
72質譜分析140
73中子活化分析141
74電子顯微鏡142
參考文獻144

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