《矽基薄膜光伏組件光致衰減測試方法》是2019年11月15日實施的一項行業標準。
基本介紹
- 中文名：矽基薄膜光伏組件光致衰減測試方法
- 外文名：Test method for thin-film amorphous silicon based photovoltaic (PV) modules Light Induced Degration (LID)
- 標準編號：T/CSPSTC 25—2019
- 發布日期：2019年08月28日
- 實施日期：2019年11月15日
起草人,起草單位,適用範圍,技術內容,
起草人
丁建、童翔、李璇、陳振、史振亮、姚冀眾、李志堅、蔣猛、薛俊明、盧成緒、郝宇花。
起草單位
能移動能源控股集團有限公司、東泰高科裝備科技有限公司北京分公司、杭州纖納光電科技有限公司、深圳市創益科技發展有限公司、成都中建材光電材料有限公司、河北漢盛光電科技有限公司、標準聯合諮詢中心股份公司。
適用範圍
本標準規定了矽基薄膜光伏組件光致衰減測試方法的範圍、術語和定義、裝置、試樣、程式、數據處理和試驗報告。 本標準只適用於矽基薄膜光伏組件。
技術內容
主要內容包括範圍、術語和定義、裝置、抽樣、程式、計算、試驗報告。
在矽基薄膜光伏組件在光照影響下的功率穩定過程中，每個大致相等的輻照周期前後測試最大功率值，最小輻照周期為43kwh/m2，按照IEC 61215-2 MQT 19的規定組件達到穩定後（IEC 61215-1-3：2016中規定（PMAX-PMIN）/PAVE≤2%），持續光照，功率仍舊出現持續下降的趨勢。本標準給出以下方程式作為判定組件光致衰減是否達到最終穩定的準則：此處，Pmax、Pmin和Paverage為連續兩個周期中測得的三個STC下最大功率的最大值、最小值和平均值。
