相位都卜勒測速粒徑儀

相位都卜勒測速粒徑儀是一種用於工程與技術科學基礎學科、安全科學技術領域的物理性能測試儀器，於2007年4月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：相位都卜勒測速粒徑儀
• 產地：美國
• 學科領域：工程與技術科學基礎學科、安全科學技術
• 啟用日期：2007年4月1日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 顆粒度測量儀器 > 粒度分布測量儀

技術指標

粒子尺寸測量範圍：5-1500微米、粒子尺寸測量精度：1%、速度測量範圍：-150-- +150m/s、速度測量精度：0.1%。

主要功能

兩維雷射都卜勒測速及粒徑分析儀系統，適用於對流體的一維至兩維速度場以及粒徑，進行非接觸式的精確測量。被測介質為透明或基本透明的（可以是高溫、帶腐蝕性的）液體、氣體或兩相流。該系統可用於以下研究：射流測量、管道流體內流場測量，熱交換流動測量，流體機械的設計研究，湍流及複雜流動的研究，邊界層流動的研究，氣、液射流，多相流研究等。