《發光二極體熱阻抗測試方法》是2019年12月30日實施的一項行業標準。
基本介紹
- 中文名：發光二極體熱阻抗測試方法
- 外文名：Measurement Method for Real Thermal Resistance and Impedance of Light Emitting Diodes
- 標準編號：T/CSA 047—2019
- 實施日期：2019年12月30日
- 發布日期：2019年12月30日
起草人,起草單位,主要內容,
起草人
樊嘉傑、郭偉玲、李松宇、楊衛橋、陳威、夏明穎、林丞、鄧亮、潘明清、黃立敏、呂天剛、黃杰、劉東月、張志寬、曾平、夏譽、區建鵬、裴小明、陳元閃、李倩、王建平、呂鶴男、叢海雲。
起草單位
常州市武進區半導體照明套用技術研究院、北京工業大學、河北立德電子有限公司、廈門華聯電子股份有限公司、常州星宇車燈股份有限公司、鴻利智匯集團股份有限公司、國家半導體器件質量監督檢驗中心、深圳市聚飛光電股份有限公司、江西省通用節能科技有限公司、杭州華普永明光電股份有限公司、廣東三雄極光照明股份有限公司、深圳市瑞豐光電子股份有限公司、福建中科芯源光電科技有限公司、杭州遠方光電信息股份有限公司、杭州浙大三色儀器有限公司，廣州市萊帝亞照明股份有限公司、山西中科潞安半導體技術研究院有限公司。
主要內容
本標準規定了一種用於發光二極體（LED）或LED陣列的熱特性的電學法熱阻測試方法。
本標準適用於直流方式供電的LED，且無自發熱的條件下，待測LED的正向電壓應與環境溫度呈明顯線性關係。
本標準適用於實驗室環境和小批量的單顆LED和一定結構的LED陣列（包括LED的串聯、並聯、混聯）的穩態和瞬態條件下熱阻和結溫的測試。
本標準不適用於雷射二極體的熱阻和結溫測試。
