《當代光學計量測試技術概論》作者楊照金，2013年出版。
基本介紹
- 作者：楊照金 編
- 出版時間：2013年1月
- 出版社： 國防工業出版社
- 頁數：451 頁
- ISBN：9787118084672
- 定價：98 元
內容介紹,讀者對象,
內容介紹
《光電技術系列叢書:當代光學計量測試技術概論》簡要介紹光學量子計量技術和非常規量限光學計量測試技術基本概念、計量標準和測量方法。光學量子計量技術主要介紹量子基準的基本概念和典型量子計量基準，重點介紹光學量子計量相關的內容，包括雙光子相關計量技術、單光子探測技術、光子計數技術、單光子成像計量技術、量子長度計量技術、量子時間計量技術和納米計量技術等。非常規量限光學計量主要介紹非常規量限光學計量測試的基本概念、計量標準和測量方法，涉及了真空紫外與極紫外、高能雷射參數、超短雷射脈衝特性參數、大口徑光學元件與系統參數、微光學參數、高反射光學薄膜參數、大口徑光學材料參數等。
讀者對象
《光電技術系列叢書:當代光學計量測試技術概論》可作為光學工程專業博士、碩士研究生和本科生的教學參考書，亦可作為從事光學計量測試人員的業務參考書。
