球差矯正透射式電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2015年12月2日啟用。
基本介紹
- 中文名：球差矯正透射式電子顯微鏡
- 產地：美國
- 學科領域：材料科學
- 啟用日期：2015年12月2日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
titan cubed G2。
主要功能
球差矯正透射式電子顯微鏡。
球差矯正透射式電子顯微鏡
相關詞條
- 球差矯正透射式電子顯微鏡
球差矯正透射式電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2015年12月2日啟用。技術指標titan cubed G2。1主要功能球差矯正透射式電子顯微鏡。1...
- 球差校正透射電子顯微鏡
球差校正透射電子顯微鏡是一種用於生物學、化學、物理學、農學領域的分析儀器，於2018年11月19日啟用。技術指標 1.空間分辨能力60皮米；2. 加速電壓80KV,200KV,300KV。主要功能 用於材料中微結構的高空間分辨結構研究。
- 球差矯正透射電子顯微鏡
球差矯正透射電子顯微鏡 球差矯正透射電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2013年08月16日啟用。技術指標 1. TEM點解析度：80pm 2. STEM解析度：136pm。主要功能 材料微觀組織結構與成分分析。
- 球差校正環境透射電鏡
球差校正環境透射電鏡是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器，於2017年02月08日啟用。技術指標 1. X-FEG 300kV 電子槍；2. 加速電壓：80-300KV；3. TEM點解析度：＜ 0.1nm。主要功能 itan ETEM G2 80-300 顯微鏡...
- 電子束球差校正透射電子顯微鏡
電子束球差校正透射電子顯微鏡是一種用於物理學、材料科學、能源科學技術領域的分析儀器，於2012年10月22日啟用。技術指標 1.TEM點解析度0.205nm；STEM信息解析度0.08nm；2.能譜能量解析度136eV,B5-U92;3.雙傾台轉角α~±40度,β...
- 單色球差校正掃描透射電子顯微鏡
單色球差校正掃描透射電子顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2019年6月28日啟用。技術指標 空間解析度：0.1nm@100kV, 0.13nm@60kV和30kV；譜學能量解析度：10meV@100kV, 8meV@60kV和30kV；電子槍亮度：相干電流...
- 利用球差校正透射電鏡表征磷烯的原子和電子結構
《利用球差校正透射電鏡表征磷烯的原子和電子結構》是依託浙江大學，由金傳洪擔任項目負責人的面上項目。項目摘要 原子尺度的結構-性能關聯表征是二維原子晶體研究中的重要基礎之一。本項目立項針對磷烯這一新型二維半導體材料，擬採用球差...
- 重金屬固液界面吸附、反應及遷移的原子尺度機理研究
研究將利用球差校正高解析度掃描透射電子顯微鏡（STEM+EDS+EELS）等系列高端表征設備，建立複雜環境介質重金屬遷移及表面反應研究方法，發展適用於水化學固液界面研究手段。有望為複雜環境下重金屬巨觀遷移和轉化動力學研究提供原子層次上的機理...
- 胡濤(中南大學教授)
2008年起一直從事透射電子顯微學相關的研究，主要研究方向為：運用高分辨透射電子顯微鏡 (HRTEM) 和球差矯正掃描透射電子顯微鏡 (Aberration-corrected STEM) 對材料的析出相、界面相進行原子尺度表征，材料強度和材料熱穩定性。以第一作者或...
