SMU是一種精確供電設備,它不僅可以提供測量解析度小於1mV的電壓源,還可以提供測量解析度低於1uA的電流源。
英文名稱:Source Measure Unit,簡稱SMU
基本介紹
- 中文名:源測量單元SMU
- 外文名:Source Measure Unit
- 簡稱:SMU
- 套用:廣泛使用於工業
SMU是一種精確供電設備,它不僅可以提供測量解析度小於1mV的電壓源,還可以提供測量解析度低於1uA的電流源。
英文名稱:Source Measure Unit,簡稱SMU
SMU是一種精確供電設備,它不僅可以提供測量解析度小於1mV的電壓源,還可以提供測量解析度低於1uA的電流源。 英文名稱:Source Measure Unit,簡稱SMU中文名 源測量單元SMU 外文名 Source Measure Unit 簡稱 SMU 套用 廣泛使用於工業 目...
概述 237源測量單元(SMU)可以完全進行程控,能夠同時輸出和測量電壓或電流。這些設備真正實現電壓源,電流源,電壓表,電流表四種功能合一。主要特性 四表合一(電壓源,電壓表,電流源,電流表)10fA,10μV的測量分辨力1100V源測量 ...
半導體特性測量系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器,於2012年06月06日啟用。技術指標 該儀器具有四個源測量單元(SMU),其中包括三個0.1fA的高解析度SMU和一個1A的大功率SMU。主要功能 各種微米和納米器件的電學性能測試。
一個2600A雙通道源測量單元(SMU)非常適合於單器件可靠性測試。最小配置只需要一個2600A雙通道SMU;但是,大多數系統配置都支持在一個機架內配置8到40個SMU,滿足真正並行WLR特徵分析套用的需求。2600A SMU允許ACS-WLR架構為每個測試...
半導體參數分析系統是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2014年09月01日啟用。技術指標 1.1系統源測量單元(SMU)單元技術指標:4個SMU的電流測量解析度均為0.1fA;測量精度均為10fA;其中3個SMU的電流測量範圍為0.1fA-100mA...
同樣重要的是,利用4225-PMU可以像使用傳統高解析度源測量單元(SMU)進行直流測量那樣,輕鬆實現超快的I-V源和測量操作。配置構成 每個4225-PMU外掛程式模組提供集成源和測量的雙通道,但僅占用九槽機架中的一個插槽。與同類競爭產品相比,...
最大電壓200V,最大功率2W 4200-SMU高解析度中功率SMU(源測量單元) 最大電流100mA;最大電壓200V;最大功能2W;配置有4200-PA,擴展電流解析度至0.1fA 4200-CVU C-V測試單元,掃描頻率範圍1KHZ-10MHz。主要功能 物理參數測量。
我們可以利用基本的測量工具(例如安培計和電壓源),或者集成了電源和測量功能的儀器(例如數字源表[10]或者源測量單元SMU[11]),生成這種I-V曲線圖[12]。為了適應這類套用的需求,測試設備必須能夠在PV電池測量可用的量程範圍內提供電壓源...
* 4220-PGU脈衝發生器單元(僅電壓源)* 4225-RPM遠程放大器/開關 * 4200-SMU中等功率源測量單元 * 用於4200-SCS的4210-SMU高功率源測量單元 * 用於4200-SMU和4210-SMU的4200-PA遠程前置放大器選件 * 4210-CVU 1kHz - 10MHz電容...
2657A能通過兼容現有高壓測試套用的標準安全高壓(SHV)同軸電纜連線至測試系統的其它儀器。一台或兩台大電流2651A測量儀器以及多達3台低功率SMU儀器(其它2600A系列儀器或4200-SCS半導體特性分析系統)的器件測試系統。
連線和探測方案 2657A能通過兼容現有高壓測試套用的標準安全高壓(SHV)同軸電纜連線至測試系統的其它儀器。一台或兩台大電流2651A測量儀器以及多達3台低功率SMU儀器(其它2600A系列儀器或4200-SCS半導體特性分析系統)的器件測試系統。
S530低電流系統適於測量亞域值漏電、柵漏電等特性。S530高壓系統包含的源測量單元(SMU)能輸出高達1000V@20mA(20W最大值)至任意系統引腳。此版本最佳化了GaN、SiC和Si LDMOS功率器件所需的難度較大的故障測試和漏電測試。雖然新的48針...