深紫外雷射調製反射光譜儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2016年12月14日啟用。
基本介紹
- 中文名:深紫外雷射調製反射光譜儀
- 產地:法國
- 學科領域:物理學、材料科學
- 啟用日期:2016年12月14日
- 所屬類別:分析儀器 > 光譜儀器 > 雷射光譜儀
技術指標,主要功能,
技術指標
泵浦雷射波長177nm和532nm,光譜掃描範圍:180-1100nm,控溫範圍:8-300K,真空度1.9×10-6 hPa,調製反射比大於0.5X10-5。
主要功能
深紫外雷射和可見光激發下光調製反射光譜的測量。