液晶單體熔點的測定差示掃描量熱法

《液晶單體熔點的測定差示掃描量熱法》是2019年12月24日實施的一項行業標準。

基本介紹

• 中文名：液晶單體熔點的測定差示掃描量熱法
• 標準編號：T/SBX 026—2019
• 發布日期：2019年12月24日
• 實施日期：2020年02月01日

起草人

邸玉靜、王奎、王會芳、孟勁松、張芳苗、侯澤峰、向陽、田秋峰

起草單位

石家莊誠志永華顯示材料有限公司、煙臺盛華液晶材料有限公司、河北凡克化工有限公司

主要內容

本標準規定了採用差示掃描量熱儀（Differential Scanning Calorimetry，簡稱DSC）測定液晶單體熔點的測試方法的原理、材料、儀器、試驗條件、操作步驟，結果表示等內容。

本標準適用於液晶單體熔點的測定。

該標準規定了《液晶單體熔點的測定 差示掃描量熱法》的具體要求，可操作性強，部分內容參數高於國行標，填補了現有標準對液晶單體熔點測量的實際操作性能的空白，更適應現代行業的需求，可以作為推薦性標準在液晶組分測試中套用。