水平干涉儀

水平干涉儀是一種用於物理學領域的計量儀器，於2006年08月11日啟用。

基本介紹

• 中文名：水平干涉儀
• 產地：美國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2006年08月11日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 雙頻雷射干涉儀

技術指標

口徑450mm（18英寸）內平面反射鏡精度達到十分之一波長（6328nm）。全口徑儀器的測量精度為為十分之一波長。

主要功能

測量口徑小於450mm的平面反射鏡；選擇不同F數的球面標準鏡，可以測量球面反射鏡；選擇適當的光路，可以對非球面的面形精度進行定量測量。