氮化鎵單晶襯底片x射線雙晶搖擺曲線半高寬測試方法

《氮化鎵單晶襯底片x射線雙晶搖擺曲線半高寬測試方法》是2016年11月1日實施的一項中國國家標準。

基本介紹

• 中文名：氮化鎵單晶襯底片x射線雙晶搖擺曲線半高寬測試方法
• 外文名：The method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of GaN single crystal substrate
• 標準類別：方法
• 標準號：GB/T 32188-2015

編制進程

2015年12月10日，《氮化鎵單晶襯底片x射線雙晶搖擺曲線半高寬測試方法》發布。

2016年11月1日，《氮化鎵單晶襯底片x射線雙晶搖擺曲線半高寬測試方法》實施。

起草工作

主要起草單位：中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所、蘇州納維科技有限公司、中國科學院物理研究所、北京天科合達藍光半導體有限公司、丹東新東方晶體儀器有限公司。

主要起草人：邱永鑫、任國強、劉爭暉、曾雄輝、王建峰、陳小龍、王文軍、鄭紅軍、徐科、趙松彬。