比長儀測量功能擴展系統

比長儀測量功能擴展系統是一種用於物理學、工程與技術科學基礎學科、機械工程、電子與通信技術領域的計量儀器，於2009年12月20日啟用。

基本介紹

• 中文名：比長儀測量功能擴展系統
• 產地：中國
• 學科領域：物理學、工程與技術科學基礎學科、機械工程、電子與通信技術
• 啟用日期：2009年12月20日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 線紋工作基準裝置

技術指標

非接觸瞄準測量重複性20nm，接觸式瞄準測量重複性0.2μm。

主要功能

主要用於檢測線紋尺、光柵尺、容柵尺、以及雷射干涉儀等一維線紋標準器及量塊、步距規等一維端面標準器。