有機二次離子質譜法

有機二次離子質譜法（organic secondary ion mass spectrometry）是2016年公布的化學名詞。

基本介紹

• 中文名：有機二次離子質譜法
• 外文名：organic secondary ion mass spectrometry
• 所屬學科：化學
• 公布時間：2016年

定義

將有機化合物塗敷於金屬靶上，以一次離子轟擊產生二次離子用以對有機化合物進行分析的靜態二次離子質譜法。

出處

《化學名詞》第二版。