智慧財產權案件技術鑑定實務與研究

智慧財產權案件技術鑑定實務與研究

《智慧財產權案件技術鑑定實務與研究》是2003年人民法院出版社出版的圖書,作者是楊林村。

基本介紹

  • 中文名:智慧財產權案件技術鑑定實務與研究
  • 作者:楊林村
  • 出版社:人民法院出版社
  • 出版時間:2003年4月
  • 頁數:235 頁
  • 定價:15.0 元
  • 裝幀:平裝
  • ISBN:9787801615213
內容簡介
本書的特色是認真總對技術鑑定的實踐經驗,注重理論聯繫實際地研究問題。對智慧財產權糾紛案件中技術鑑定的特點與傳統的產品質量或人身傷害的技術鑑定進行了比較研究,說明了兩者在被鑑定的客體、鑑定手段和分析證券原則等主要方面的本質不同;對涉及訴訟法的有關理論和實踐問題,進行了比較深入的研究探討;介紹了該中心進行技術鑑定遵循的程式,國、詳細闡述了各類智慧財產權糾紛案件的技術鑑定原則,並以典型的鑑定案例說明如何組織鑑定專家分析對比證據,經過研究評價作以法定標準或原則認定技術事實,作出鑑定結論,使讀者猶如在親星星臨旁聽技術鑑定會。
本書試圖從鑑定結論作為證據的一般性問題入手,探討智慧財產權案件審判中的技術鑑定問題。本書對技術鑑定在智慧財產權案件訴訟中的一般性問題,諸如鑑定結論作為訴訟證據的法律問題 、鑑定活動產生的法律關係、鑑定的組織方式和程式、以及各類智慧財產權案件的技術鑑定方法和評判標準等作了深入的闡述。

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