晶片測試器是一種用於化學、生物學、藥學領域的物理性能測試儀器，於2011年10月17日啟用。
基本介紹
- 中文名：晶片測試器
- 產地：美國
- 學科領域：化學、生物學、藥學
- 啟用日期：2011年10月17日
- 所屬類別：物理性能測試儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
掃描玻片 (25×75mm或 26×76mm, 0.9-1.2mm厚)；掃描解析度 5-100um可調（最大解析度5um）；掃描速度：約4分鐘掃描完一色結果（整個掃描面積，10um分辯率）；最大掃描區域：22×72mm；數位解析度16位；線性範圍：大於10的4次方；焦距調整範圍： －50um至+200um，步長為1um。雷射強度：由5-100%連續可調雷射類型：紅色，蘭色雷射，為固態二極體連續波雷射。光圈大小0.68；焦距深度±32um；檢測器：光電倍增管(PMT)。
主要功能
用於糖晶片、蛋白晶片和基因晶片掃描分析。
