晶圓測試儀是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2008年11月01日啟用。
基本介紹
- 中文名:晶圓測試儀
- 產地:日本
- 學科領域:電子與通信技術
- 啟用日期:2008年11月01日
- 所屬類別:電子測量儀器 > 大規模積體電路測試儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
晶圓尺寸:5寸 6寸 8寸 綜合精度:4um以內 X-Y軸速度:200mm/s Z軸速度:35ms/0.5mm行程 硬碟:3.5英寸 4.5GB 1台標準配備 壓縮空氣:0.4Mpa以上。
主要功能
主要用於5寸 6寸 8寸晶圓的測試。