數字系統測試

作品內容

在半導體積體電路的設計與製造過程中，測試的重要性越來越突出，有關數字系統測試方面的書籍也不斷出現，本書是這些書籍中內容十分全面豐富的一本。本書系統地介紹了數字系統測試相關方面的知識，包括基礎內容方面的自動測試向量生成、可測性設計、內建自測試等，高級內容方面包括IDDQ測試、功能測試、延遲故障測試、CMOS測試、存儲器測試以及故障診斷等，並論述了最新的測試技術，包括各種故障模型的測試生成、積體電路不同層次的測試技術以及系統晶片的測試綜合等，其內容涵蓋了當前數字系統測試與可測試性設計方面的基礎知識與研究現狀等。

本書可作為高等學校計算機、微電子、電子工程等專業的高年級本科生和研究生的教材與參考書，也可供從事相關領域工作，特別是積體電路設計與測試的科研與工程技術人員參考。

作品章節

第1章　緒論

1.1　故障及其表現

1.2　故障分析

1.3　測試分類

1.4　故障覆蓋率要求

1.5　測試經濟學

小結

習題

參考文獻

第2章　故障模型

2.1　電路的不同抽象層次

2.2　不同抽象層次的故障模型

2.3　歸納故障分析

2.4　故障模型間的關係

小結

習題

參考文獻

第3章　組合邏輯與故障模擬

3.1　簡介

3.2　預備知識

3.3　邏輯模擬

3.4　故障模擬基礎

3.5　故障模擬方式

3.6　近似的低複雜度故障模擬

小結

補充閱讀材料

習題

參考文獻

第4章　組合電路的測試生成

4.1　簡介

4.2　複合電路表示與值系統

4.3　測試生成基礎

4.4　蘊涵

4.5　結構化測試生成算法：預備知識

4.6　特定的結構化測試生成情況

4.7　非結構化測試生成技術

4.8　測試生成系統

4.9　減少測試中散熱和噪聲的測試生成

數字系統測試

基本介紹

目錄

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