數字積體電路與嵌人式核心系統的測試設計

本書包括五章，按目錄的順序排列是：測試基礎、自動測試圖形生成(A TPG)、掃描、存儲器測試和核心。每章概要如下： 第1章包括有關測試的術語、定義和基本信息，介紹了什麼是測試和可測性設計，怎么做測試，為什麼做測試，需要測試的對象是什麼，怎么度量與實施測試，使用什麼設備測試，工程和成本權衡的內因是什麼。

基本介紹

• 書名：數字積體電路與嵌人式核心系統的測試設計
• 作者：克拉茨(美)
• ISBN：7111187067
• 出版社：機械工業
• 出版時間：2006-05-01
• 開本：16開

內容簡介

這是非常基礎的一章，可以讓初學者或初級測試與可測性設計專業人員快速了解測試的需求、作用和語言。 第2章介紹繁重的向量生成任務的自動化過程，以及如何利用自動測試圖形生成(ATPG)方法減小量產時間。該章描述了AC(動態)和DC(靜態)故障模型向量生成分析與技術，包括了在硬體設計中必須遵守某些規則的原因，如何降低向量集合的大小，向量集合生成的時間等內容。本章同時也討論了AT PG過程中的度量和權衡，介紹了不同ATPG工具的評估和基準程式比較，幫助讀者在套用中選擇適用的方法和工具。 第3章講述掃描測試方法，開始先介紹了掃描設計和操作的基本知識，討論了採用一個掃描設計時需要考慮的設計要點與權衡。同時也包括了在設計中的掃描安裝技術，以及一些普遍問題的解決方法，例如可靠移位、無競爭向量、移位定時、時鐘偏差。最後，介紹了一些減少測試時間的技術，如按照額定功能頻率對掃描結構進行移位(全速掃描)，以及從設計的定時分析中抽取關鍵路徑信息，然後在掃描鏈中使用額定頻率採樣(AC掃描)，從而通過掃描來達到AC測試目標。 第4章講述存儲器測試、掃描測試結構中的存儲器應對方法和存儲器內建自測試(MBIST)。該章從存儲器測試基礎講起，擴展到與掃描共存的測試結構，最後描述內建自測試結構與集成。內建自測試的存儲器核心交付要包含很多信息，包括如何處理大量存儲器核心集成，如何減少路由的問題，功耗問題，特徵提取，數據調試，數據保存問題。 第5章介紹使用可測試與可訪問的嵌入式核心進行可測性設計。該章先介紹了被稱作“嵌入式IP(智慧型模組)”，嵌入式核心或基於核心的設計風格的基本術語、定義、內容、權衡。基於嵌入式核心的設計流程包括兩個方面，設計可測試可重用的核心，使用嵌入式可重用核心設計晶片。學習該章需要深入理解第1、3、4章的內容。

版 次：初版

包 張：平裝

目錄

譯者序

前言

本書導讀

第1章 測試和可測性設計的基礎知識

1.1簡介

1.1.1目的

1.1.2測試、測試過程和可測性設計

1.1.3並發測試工程

1.2測試動因

1.2.1為什麼要測試

1.2.2 DPr爭論的正反方觀點

1.3測試的定義

1.3.1什麼是測試

1.3.2輸入激勵

1.3.3輸出回響

1.4測試度量準則

1.4.1測量什麼

1.4.2故障度量的數學描述

1.5故障建模

1.5.1物理缺陷

1.5.2故障建模

1.6測試分類

1.6.1功能測試

1.6.2結構測試

1.6.3組合電路的窮舉和偽窮舉測試

1.6.4全窮舉測試

1.6.5測試風格

1.7製造過程中的測試

1.7.1製造過程中的測試過程

1.7.2製造過程中的測試負載板

1.7.3製造過程中的測試程式

1.8使用自動測試設備

1.8.1 自動測試設備

1.8.2 ATE的限制

1.8.3 ATE成本考慮

1.9測試和引腳的定時

1.9.1測試儀和器件引腳的定時

1.9.2測試儀的邊沿設定

1.9.3測試儀的精度和準確度

1.10製造過程中的測試程式的構成

1.10.1測試程式的分塊和組成

1.10.2測試程式最佳化

1.11推薦的參考讀物

笫2章 自動測試圖形生成的基本原理

2.1簡介

2.1.1目的

2.1.2自動測試圖形生成

2.1.3圖形生成過程的流程

2.2選擇ATPG的理由

2.2.1為什麼選擇ATPG

2.2.2關於ATPG的正反方觀點

2.3自動測試圖形生成過程

2.4組合電路的固定故障介紹

2.4.1組合電路的固定故障

2.4.2組合電路的固定故障檢測

2.5延時故障介紹

2.5.1延時故障

2.5.2延時故障的檢測

2.6基於電流的故障介紹

2.6.1基於電流的測試

……