數字積體電路測試最佳化——測試壓縮、測試功耗最佳化、測試調度

《數字積體電路測試最佳化——測試壓縮、測試功耗最佳化、測試調度》是科學出版社出版的圖書，作者是李曉維,韓銀和,胡瑜,李佳。

基本信息

		李曉維,韓銀和,胡瑜,李佳 著
		科學出版社		2010年6月出版
		定價：58.00		語種：中文
		標準書號：978-7-03-027894-4		裝幀：精裝
		版本：第一版		開本：B5
		責任編輯：劉寶莉		字數：433千字
		讀者對象：本科以上文化程度		頁數：344
		書類：理論專著/研究生教育		冊/包：
		編輯部： 工程技術分社
		附註：

內容簡介

本書內容涉及數字積體電路測試最佳化的三個主要方面：測試壓縮、測試功耗最佳化、測試調度。包括測試數據壓縮的基本原理，激勵壓縮的有效方法，測試回響壓縮方法和電路結構；測試功耗最佳化的基本原理，靜態測試功耗最佳化方法，動態測試功耗最佳化；測試壓縮與測試功耗協同最佳化方法；測試壓縮與測試調度協同最佳化方法；並以國產64位高性能處理器（龍芯2E和2F）為例介紹了相關成果的套用。
全書闡述了作者及其科研團隊自主創新的研究成果和結論，對致力於數字積體電路測試與設計研究的科研人員(尤其是在讀研究生)具有較大的學術參考價值，也可用作積體電路專業的高等院校教師、研究生和高年級本科生的教學參考書。