數字圖像處理(第六版)

數字圖像處理(第六版)

《數字圖像處理(第六版)》是2014年電子工業出版社出版的圖書,作者是(美)魯斯。

基本介紹

  • 中文名:數字圖像處理(第六版)
  • 作者:(美)魯斯
  • 譯者:余翔宇等
  • 出版社:電子工業出版社
  • 出版時間:2014年08月07日
  • ISBN:9787121214394
內容簡介,作者簡介,目錄,

內容簡介

這是一本關於圖像處理基本原理及其具體套用的圖書,是作者多年來教學、科研與套用的總結。全書共15章,內容貫穿從圖像獲取到套用的整個過程,具體包括圖像獲取、人類視覺、列印和存儲、成像缺陷修正、空間域圖像增強、頻率域圖像處理、分割和閾值處理、二值圖像處理、全局圖像測量、特定特徵的測量、形狀表征、特徵識別與分類、層析成像、三維可視化、表面成像。
本書的特色是,著重於各種圖像處理方法的介紹與比較,並使用實例進行演示與說明。

作者簡介

在作為科學家和教育家的50年生涯中,John C. Russ一直使用圖像處理和分析來作為理解和描述材料結構和功能的主要工具。來自各種設備(包括光學和電子顯微鏡、X射線和中子斷層掃描等)的圖像要求計算機處理和測量,以提取重要的數據。Russ的許多研究工作涉及金屬和陶瓷的微觀結構與表面形貌。他的研究與教學獲得了來自政府機關和業界的基金資助。儘管現已退休,但Russ博士目前正協助北卡羅來納州立大學建立新的實驗室和計畫,這將是全美第一家提供取證學與工程高級學位的地方。
對算法與設備的熟悉使得Russ博士的技能擴展到了更為寬泛的圖像領域——從天文學到生物醫學研究,再到食品科學與取證。另外,對於北卡羅來納州立大學工程學院的學生而言,Russ一直是其研究生學術委員會成員,此外還在材質、漿紙產品、獸醫、微生物學、食品科學、考古學等方面與教員們進行協作。向幾千名學生講授原理與方法並向業界客戶提供諮詢,進一步拓寬了Russ博士的經驗及圖像處理與分析的套用範圍。
退休後,Russ博士曾擔任Rank Taylor Hobson這家精密儀器製造商的研究總監。他仍在撰寫圖書並為許多公司提供諮詢(以及刑事與民事案件的專家鑑定),在全球範圍內開辦圖像處理與分析講習班,並審閱出版物和基金申請書。他活躍於美國顯微學會、微束分析學會、國際光學工程學會(SPIE)、國際體視學學會,是定量形態學學會的主席團成員、皇家顯微學會會士,並受這些或其他組織的邀請進行特邀講座與培訓。2006年11月16日,紐約顯微學會因John Russ在顯微領域作為計算機輔助顯微與圖像分析的開發者,而授予他Ernst Abbe紀念獎。

目錄

第1章 獲取圖像 1
1.1 人類依賴圖像來獲取信息 1
1.2 攝像機 3
1.3 CCD相機 4
1.4 相機缺陷與限制 8
1.5 彩色相機 9
1.6 相機解析度 11
1.7 對焦 12
1.8 電子和頻寬限制 12
1.9 像素 14
1.11 噪聲 17
1.12 高深度圖像 18
1.13 彩色成像 21
1.14 數位相機的局限性 26
1.15 色彩空間 26
1.16 色彩校正 33
1.17 彩色顯示器 35
1.18 圖像類型 36
1.19 距離成像 37
1.20 多幅圖像 42
1.21 體視法 45
1.22 成像需求 50
第2章 人類視覺 55
2.1 我們看到了什麼,為什麼會看到 55
2.2 識別 57
2.3 技術參數 60
2.4 敏度 63
2.5 眼睛告訴大腦的內容 66
2.6 空間比較 68
2.7 局部到全局層次結構 70
2.8 時間問題 74
2.9 第三維 77
2.10 工作原理與工作內容 79
2.11 看到不存在的東西,反之亦然 80
2.12 圖像壓縮 82
2.13 光的世界 83
2.14 尺寸很重要 85
2.15 形狀 86
2.16 上下文 88
2.17 必須做好布局 89
2.18 眼見為實 91
2.19 結論 92
第3章 列印和存儲 93
3.1 列印 93
3.2 紙張上的點 96
3.3 彩色印刷 98
3.4 印刷硬體 102
3.5 膠片記錄器 105
3.6 其他演示工具 106
3.7 檔案存儲 106
3.8 存儲介質 107
3.9 磁性記錄 108
3.11 瀏覽和縮略圖 114
3.12 無損編碼 116
3.13 簡化的調色板 120
3.14 JPEG壓縮 121
3.15 小波壓縮 123
3.16 分形壓縮 126
3.17 數字電影 127
第4章 修正成像缺陷 129
4.1 對比度擴展 129
4.2 帶噪圖像 132
4.3 鄰域平均法 135
4.4 鄰域排序 140
4.5 其他鄰域降噪方法 147
4.6 缺陷消除、最大熵和最大似然 151
4.7 非均勻光照 153
4.8 擬合背景函式 155
4.9 排序調勻 159
4.10 彩色圖像 161
4.11 非平面視圖 162
4.12 計算機圖形學 163
4.13 幾何失真 164
4.14 對齊 166
4.15 內插 168
4.16 變形 171
第5章 空間域圖像增強 173
5.1 對比度控制 174
5.3 局部均衡 180
5.5 導數 189
5.6 使用梯度找到邊緣 192
5.7 其他邊緣檢測器 196
5.8 紋理 201
5.9 分形分析 204
5.10 實現說明 204
5.11 圖像數學基礎 205
5.12 減去圖像 206
5.13 相乘和相除 208
5.14 主成分分析 210
5.15 其他圖像組合 213
第6章 頻率空間中的圖像處理 217
6.1 關於頻率空間 217
6.2 傅立葉變換 218
6.3 簡單函式的傅立葉變換 220
6.4 頻率和方向 223
6.5 首選方向 225
6.6 紋理和分形 228
6.7 隔離周期性噪聲 230
6.8 選擇性掩模和濾波器 233
6.9 周期性信息的選擇 235
6.10 卷積 238
6.11 去卷積 240
6.12 噪聲和維納去卷積 243
6.13 模板匹配和相關 248
6.14 自相關 252
第7章 分割和閾值處理 254
7.1 閾值處理 254
7.2 自動設定閾值 256
7.4 二維閾值 260
7.5 多頻段閾值處理 262
7.6 來自紋理的閾值處理 264
7.7 多個閾值處理標準 266
7.8 紋理方向 267
7.9 區域邊界 270
7.10 條件直方圖 274
7.11 邊界線 276
7.12 輪廓 278
7.13 圖像表示 280
7.14 其他分割方法 282
7.15 一般分類問題 284
第8章 二值圖像處理 286
8.1 布爾運算 286
8.2 組合布爾運算 289
8.3 掩模 291
8.4 從像素到特徵 293
8.5 特徵的布爾邏輯運算 297
8.6 按位置選取特徵 300
8.7 雙閾值處理 304
8.8 腐蝕和膨脹 305
8.9 開運算和閉運算 306
8.10 各向同性 309
8.11 使用腐蝕和膨脹進行測量 311
8.12 擴展到灰度圖像 313
8.13 形態學鄰域參數 314
8.14 套用示例 316
8.15 歐氏距離圖 318
8.16 分水嶺分割 320
8.17 最終的腐蝕點 324
8.18 骨架 326
8.19 邊界線條和加粗 329
8.20 組合骨架和EDM 332
第9章 全局圖像測量 334
9.1 全局測量和體視學 334
9.2 表面積 338
9.3 ASTM顆粒尺寸 341
9.4 多種類型的表面 342
9.5 長度 343
9.6 厚度 345
9.7 採樣策略 346
9.8 確定數量 348
9.9 曲率、連通性和Disector 350
9.10 各向異性和梯度 352
9.11 顆粒尺寸 355
9.12 經典體視學(展開) 356
第10章 特定特徵的測量 359
10.1 亮度測量 359
10.2 確定位置 365
10.3 方向 367
10.4 相鄰關係 369
10.5 對齊 372
10.6 計數 378
10.7 特殊的計數過程 381
10.8 特徵尺寸 384
10.9 圓和橢圓 386
10.10 卡尺維度 387
10.11 周長 389
第11章 形狀表征 392
11.1 描述形狀 392
11.2 無量綱比 393
11.3 分形維數 397
11.4 諧波分析 401
11.5 拓撲學 408
11.6 三維 410
第12章 特徵識別與分類 413
12.1 模板匹配和互相關 413
12.2 參數描述 415
12.3 決策點 420
12.4 多維分類 421
12.5 學習系統 427
12.6 kNN和聚類分析 431
12.7 專家系統 433
12.8 神經網路 435
12.9 語法模型 436
第13章 層析成像 438
13.1 多維情形 438
13.2 體積成像與截面 442
13.3 重建的基礎 445
13.4 代數重建方法 449
13.5 最大熵 451
13.6 重建圖像中的缺陷 452
13.7 射束硬化 455
13.8 成像幾何 459
13.9 三維斷層成像 462
13.10 高解析度斷層成像 466
第14章 三維視圖 470
14.1 三維數據源 470
14.2 連續切片 471
14.3 光學切片 474
14.4 連續移除 475
14.5 立體測量 477
14.6 三維數據集 479
14.7 對數據集切片 481
14.8 任意剖面 484
14.9 色彩的運用 486
14.10 立體顯示 487
14.11 立體觀看 489
14.12 專用顯示硬體 491
14.13 射線追蹤 493
14.14 反射 496
14.15 表面 499
14.16 多連通表面 502
14.17 三維空間中的圖像處理 506
14.18 三維圖像測量 508
第15章 表面成像 511
15.1 生成表面 511
15.2 物理接觸表面成像 512
15.4 表面的顯微鏡檢查 518
15.5 表面成分成像 520
15.6 距離圖像處理 521
15.7 成分圖處理 523
15.8 數據呈現與可視化 524
15.9 渲染和可視化 528
15.10 表面數據分析 531
15.11 剖面測量 532
15.12 伯明罕測量套件 535
15.13 地形分析和分形維數 539
參考文獻 544

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