掃描式雷射振動測量系統是一種用於力學、機械工程、交通運輸工程、航空、航天科學技術領域的計量儀器,於2014年5月8日啟用。
基本介紹
- 中文名:掃描式雷射振動測量系統
- 產地:德國
- 學科領域:力學、機械工程、交通運輸工程、航空、航天科學技術
- 啟用日期:2014年5月8日
- 所屬類別:計量儀器 > 力學計量儀器
掃描式雷射振動測量系統是一種用於力學、機械工程、交通運輸工程、航空、航天科學技術領域的計量儀器,於2014年5月8日啟用。
掃描式雷射振動測量系統是一種用於力學、機械工程、交通運輸工程、航空、航天科學技術領域的計量儀器,於2014年5月8日啟用。技術指標測量範圍:10m/s,頻率範圍:0-1MHz,測量不確定度:2% (k=2)。1主要功能主...
全場掃描式雷射振動測量系統是一種用於力學、物理學、工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的分析儀器,於2011年2月16日啟用。技術指標 1.振動速度範圍:最大:+/-10米/秒 VD-09型數字式解碼器,最大速度10米/秒 VD-07型數字式解碼器,最大速度0.5米/秒 2.頻率範圍:0—1MHz 3.掃描角度:X:+/-20度...
雷射掃描振動測量系統 雷射掃描振動測量系統是一種用於能源科學技術領域的物理性能測試儀器,於2012年06月29日啟用。技術指標 32通道動態信號同步數據採集與數據處理。主要功能 車輛道路振動噪聲、振動模態與動力學相關試驗。
掃描式振動測量系統 掃描式振動測量系統是一種用於動力與電氣工程領域的物理性能測試儀器,於2005年9月26日啟用。技術指標 分析頻率可達20MHz,最大測量振速20 m/s。主要功能 振動信號數據採集以及分析。
院校專用三維掃描式振動測量系統是一種用於力學、機械工程領域的計量儀器,於2014年10月31日啟用。技術指標 振動頻寬100KHz,最小速度解析度0.02微米,精度1%,工作距離0.125-50m,掃描點數512*512點,攝像機20倍光學變焦,3D和1D兩種掃描模式。主要功能 可完成雷射非接觸式三維全場振動測量與數據分析;自帶輪廓掃描...
雷射掃描測振系統 雷射掃描測振系統是一種用於物理學領域的雷射器,於2001年10月1日啟用。技術指標 多點雷射掃描測振,傳統機械結構模態頻率測試,非接觸振動測試,亞微米級。主要功能 傳統機械結構模態頻率測試,非接觸振動測試,亞微米級。
全場掃描雷射測振儀是一種用於機械工程、土木建築工程、航空、航天科學技術、交通運輸工程領域的特種檢測儀器,於2013年1月1日啟用。技術指標 雷射測振系統的技術參數: 1、最大掃描速度可達50點/s; 2、掃描角: ; 3、最大振動速度:10m/s; 4、最大振動位移:100mm; 5、精度: 1%; 6、掃描點數:1-512...
掃描式測振儀是一種用於材料科學、機械工程領域的計量儀器,於2011年01月13日啟用。技術指標 通過預設定的測量點,雷射測振儀可對整個被測面進行掃描式的測量。這種強大的掃描測振系統採用了當前最為先進的數字處理技術,同時集成了強大的數據採集、3D可視化以及數據分析軟體。主要功能 用於非接觸式的振動測量,可對...
掃描式雷射測振儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的物理性能測試儀器,於2016年10月10日啟用。技術指標 頻率範圍:DC~1000kHz;最大速度 ±10m/s;校準精度: ±1%;工作距離:最遠30m;掃描角度50°×40°,角度解析度好於0.2°。主要功能 可在距目標0.125~30米距離上測試。用戶無需建模,可在實物視頻...
非接觸式雷射掃描測振系統是一種用於機械工程領域的儀器,於1970年01月01日啟用。技術指標 寬頻寬雙通道掃描式雷射測振儀 2 通道, 1 MHz, 10 m/s 工作距離 大於0.4米(可選近掃單元close-up unit) 雷射波長 633nm 雷射保護等級 He-Ne雷射,保護等級二級,功率小於1mW,可視 測量對象大小 從幾平方毫米到數...
多功能全場掃描式雷射測振儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器,於2019年2月1日啟用。技術指標 工作距離:0.125-100m; 變焦數:16x; 最大速度:10m/s; 位置解析度:0.15nm。主要功能 PSV-500可在距目標0.125米~50米距離上測試,一次掃描完成從幾個厘米小器件到數十米大結構的模態測量,測量...
全場掃描式雷射測振儀是一種用於機械工程領域的物理性能測試儀器,於2016年05月01日啟用。技術指標 測量範圍:幾mm~數米測量;精度:1%;放大率:12倍數字20倍光學;工作溫度:5~40℃;十字線:無物鏡;用途:三維模態測量加工定製:否;速度範圍:10m/s速度;解析度:0.02μm/s/1Hz;頻寬掃描範圍:40°*50°...
三維掃描式雷射測振儀是一種用於力學領域的計量儀器,於2012年12月26日啟用。技術指標 三個雷射掃描頭和OFV-5000控制器,一個輪廓掃描單元。升級:連線箱,設備箱,數據管理系統。雷射掃描頭:低慣性掃描鏡(正負20度);高靈敏度探測頭;遙控/自動聚集彩色攝像機(72倍遙控變)。主要功能 振動測試。
超高頻掃描式雷射測振儀 超高頻掃描式雷射測振儀是一種用於自然科學相關工程與技術領域的物理性能測試儀器,於2019年5月20日啟用。技術指標 具有極大的測量頻寬,可高解析度對高達2.4 GHz的面外振動進行。主要功能 對聲表面波(SAW)分量的表面波可視化起決定性作用。
主要規格:Polytec公司的PSV-400型掃描式雷射測振儀在雷射干涉測試的基礎上測量與分析結構表面振動速率的二維分布,其主要由帶干涉儀的掃描頭、解碼控制器、連線箱、數據管理系統等幾個主要模組構成。 功能與特色:PSV-400具有技術卓越、操作簡單的特點,可解決汽車、航空航天等領域的噪聲與振動問題。具有以下特色:非...
PSV-500-V全場掃描式雷射測振儀是一種用於力學領域的物理性能測試儀器,於2016年9月26日啟用。技術指標 速度解析度:好於0.02µm/s/1Hz頻寬 頻率範圍:DC-25MHz 最大速度:±10m/s 工作距離:0.125m-100m 掃描點數:1-512×512個 掃描角度:40°×50°,角度解析度好於0.2° 掃描速度:每秒超過30個點...
結構模態分析和雷射掃描測振系統是一種用於力學領域的物理性能測試儀器,於2004年11月25日啟用。技術指標 掃描點數: 512X 512點;掃描角度:25度X 25度;最大振動速度: +/- 2m/s;頻寬:2MHz;FFT: 6400線(12800線可選);PULSE 7700 16通道多分析儀。主要功能 該系統主要從事以下幾個方面的研究:特殊環境下的...
系統原理 雷射測量系統是一個多感測器集成的自動化測量系統。將二維高頻率的雷射掃描儀對料場表面進行高頻率的斷面掃描,獲得高密度的掃描數據,結合行程測量器獲得的料場長度,和回程測量器獲得的掃瞄器偏轉角度數據,通過軟體對數據進行一系統的分析和處理,實現料場的體積計算,料場三維模型的顯示,並將測量的結果和...
雷射掃瞄器是利用時間飛行原理來測量工件的尺寸及形狀等工作的一種儀器,雷射掃描測量系統基於雷射測距原理。通過旋轉的光學部件發射形成二維的掃描面,以實現區域掃描及輪廓測量功能。西克是雷射掃描測量的領導品牌,產品被廣泛用於防撞、測量、導航、安防等,如設備防撞、散貨體積測量、車型檢測、自行小車導航、敏感區域防護...
三維雷射測振系統是一種用於材料科學、機械工程領域的儀器,於2016年01月15日啟用。技術指標 FARO三維測量及雷射掃描系統為世界上最具性價比的高性能接觸式便攜測量系統。 精確度: ±55μm (±0,01in) 描速度: 100 幀/秒 x800 點/行 = 560點/秒。主要功能 掃描零件數據,建立三維數模FARO 掃描測量臂是用於...
材料研究–由於採用非接觸式方法,雷射振動計,特別是雷射掃描振動儀,可以測量碳板等現代材料的表面振動。振動信息可以幫助識別和研究缺陷,因為與沒有缺陷的材料相比,具有缺陷的材料將顯示出不同的振動曲線。設備類型 單點LDV–這是最常見的LDV類型。掃描LDV–掃描LDV添加了一組X-Y掃描鏡,使單個雷射束可以在感...
18倍光學變焦,4倍數字變焦),變焦倍率在計算機軟體上隨意設定,非常方便地在不同尺寸的目標上定義測量區域 ;5.掃描點數: 1到256X256點;6. FFT: 3200線 掃描過程中,所有點的振動以頻譜方式逐點存儲;7. 雷射功率: 1mW,雷射自動聚焦 ;8. 測量距離: 0.53米到大於50米(視目標反射特性而定) ;9.測量結果...
雷射掃描系統,指利用雷射測距和角度自動記錄裝置真實再現被測物體色彩和三維立體景觀的測量系統。利用雷射測距和角度自動記錄裝置真實再現被測物體色彩和三維立體景觀的測量系統。可在三維地形測量、考古與文物保護、改建工程設計和變形監測等領域套用中快速獲取真三維數字模型,利用相關軟體可獲得各種數據和圖形。
光測法是將機械振動轉換為光信號,經光學系統放大後進行記錄和測量的方法。常用的儀器有讀數顯微鏡、雷射單點測振儀、雷射都卜勒掃描測振儀等。雷射測量方法具有精度高、靈敏度高、非接觸、遠距離和全場測量等優點,已成為特殊環境及遠距離測量中很有發展前途的一種方法。3.電測法 電測法是通過感測器將機械振動量(...
掃描式雷射分析儀 掃描式雷射分析儀是一種用於生物學領域的分析儀器,於2018年12月3日啟用。技術指標 微晶片的雷射掃描,解析度為10 nm。主要功能 檢測生物分子相互作用。
雷射三角振動 雷射三角測振是利用幾何光學成像原理,將雷射器發出的光經發射透鏡匯聚於被測物體表面,形成入射光點該光點通過接收透鏡匯聚於光電探測器上形成像點,使用對位置敏感的感測器就可接收到這一信息,具真尚有雷射位移感測器包括單點測振二維測振三維掃描等當入射光點與該光學結構產生相對入射光軸方向的振動或位移...
高精量微納米材料沉積及掃描式雷射分析系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2019年11月13日啟用。技術指標 1、非接觸沉積; 列印特徵線寬度最小5微米; 列印的溶劑黏度可達450cp; 可列印線,圓,折線,點陣等圖形; 三軸定位系統解析度優於5微米。 2、XY軸掃描面積12.5*12.5平方毫米; XY軸掃描...
三維雷射掃描測量系統是一種用於測繪科學技術領域的物理性能測試儀器,於2012年09月01日啟用。技術指標 儀器精度:點位6mm;距離4mm;角度12秒;模型表面精度2mm;標靶獲取精度2mm;雙軸傾斜感測器1秒解析度;補償範圍5分;精度1.5秒。主要功能 全新中文機載控制界面,操作便捷;人性化設計使用方便;全視場掃描,掃描無遺漏...
於2011年8月31日啟用。技術指標 驅動電壓:幅值≤10伏;兩個通道的測量頻率範圍:0≤頻率≤1.5MHz與0≤頻率≤20MHz;測量振動位移的幅值範圍≥10皮米。主要功能 利用雷射都卜勒原理測量結構離面振動的振幅、頻率,並可通過陣列掃描的方式得到振型圖像和振型動畫;利用頻閃成像實現面內振動的振幅、頻率測量。
相干探測型雷射雷達又有單穩與雙穩之分,在所謂單穩系統中,傳送與接收信號共同在所謂單穩態系統中,傳送與接收信號共用一個光學孔徑。並由發射/接收(T/R)開頭隔離。T/R開關將發射信號送往輸出望遠鏡和發射掃描系統進行發射,信號經目標反射後進入光學掃描系統和望遠鏡,這時,它們起光學接收的作用。T/R開關將接收...