快速控制原型及硬體在環測試系統是一種用於機械工程領域的科學儀器，於2016年6月15日啟用。
基本介紹
- 中文名：快速控制原型及硬體在環測試系統
- 產地：美國
- 學科領域：機械工程
- 啟用日期：2016年6月15日
技術指標,主要功能,
技術指標
實時處理器不低於800Mz速度，PXIe 匯流排的可擴展機箱具備FPGA功能且可可升級，輸入輸出包括溫濕度、應變、聲音/振動、速度/位置、電流/電壓（32/16通道）、電機驅動、相機、模擬/數字輸入（≥8路）、故障注入/排查等，可用多種程式語言（C、LabVIEW、Matlab/Simulink）建立控制模型可實時編程。
主要功能
快速控制原型設計和硬體在環仿真測試。
