微分積分測量系統

微分積分測量系統以微分和後繼的積分環節作為電壓轉換裝置組成的高電壓測量系統，簡稱D/I系統。

基本介紹

• 中文名：微分積分測量系統
• 類型：測量系統

這種分壓方式較多套用於衝擊高電壓測量中。說明一點,對於那些純滯後較大的區域裡,微分項是無能為力,而在測量信號有噪聲或周期性振動的系統,則也不宜採用微分控制。如:大窯玻璃液位的控制。4、例積分微分控制規律(PID):PID控制規律是一種較理想的控制規律可選FFT,微分及積分·25種參數自動測量·高解析度彩色顯示·3.5”DOS兼容磁碟信號採集系統通道數:四個...門限:用垂直雙線可將記錄的任意部分隔離出來用於測量快照:一次過完成單波形的25種參數測量,並即刻將結果顯示出來所謂積分控制(I),就是在出現穩態誤差時自動的改變輸出量,使其與手動復位動作的輸出量相同,達到消除穩態誤差的目的。當系統存在誤差時,進行積分控制,根據積分時間的大小調節器的輸出會以一定的速度變化,只要誤差還存在,就會不斷的進行輸出。