張希仁(電子科技大學光電信息學院教師)

張希仁，副教授，2004年6月畢業於西安交通大學電子與信息工程學院（今西安交通大學電子與信息學部），獲碩士學位；2008年畢業於中國科學院光電技術研究所（成都），獲博士學位。2007年獲中國科學院院長獎學金。2008年3月進入電子科技大學光電信息學院任教。先後參與國家自然科學基金、四川省青年基金和中科院光電所領域前沿部署課題等項目。主持國家自然科學基金1項。先後在Appl. Phys. Lett., J. Appl. Phys., Eur. Phys. J. Special Topic、《物理學報》和Chin. Phys. B 等國內外學術期刊上發表論文10餘篇，其中第一作者論文被SCI收錄6篇。

基本介紹

• 中文名：張希仁
• 學位/學歷：博士
• 職業：教師
• 職稱：副教授

研究方向

光聲光熱成像技術、材料無損檢測以及光信息處理等領域的研究。 獲獎情況主要論著主要論文如下：

1. Zhang Xi-Ren, Gao Chun-Ming,Zhou Ying, and Wang Zhan-Ping,Measurement accuracy analysis of the free carrier absorption determination of the electronic transport, Chin. Phys. B Vol. 20, No. 6 (2011)068105(SCI源刊).
2. Xiren Zhang, Bincheng Li, Yudong Zhang, Measuring the electronic transport properties of Si wafers with laser-induced free-carrier dynamics, 2006 OSA Annual Meeting Frontiers in Optics - Laser Science XXII (FiO-LS), 2006.10: JWD118 (光碟收錄).
3. Xiren Zhang, Bincheng Li, and Chunming Gao,Electronic transport characterization of silicon wafers by laterally resolved free carrier absorption and multiparameter fitting,Appl. Phys. Lett., 2006 89(11): 112120-1-112120-3 (SCI源刊).
4. Xiren Zhang, Bincheng Li, and Chunming Gao, Analysis of free carrier absorption measurement of electronic transport properties of silicon wafers, Eur. Phys. J. Special Topics, 2008, 153, 279-281 (SCI源刊).
5. Xiren Zhang, Bincheng Li, and Xianming Liu, Sensitivity analysis of laterally-resolved modulated free carrier absorption determination of electronic transport properties of Si wafer, J. Appl. Phys., 2008, 103, 033709-1-033709-7 (SCI源刊).
6. 張希仁，李斌成，劉顯明，調製自由載流子吸收測量半導體載流子輸運參數的三維理論，物理學報，2008, 57, 7310-7316 (SCI源刊).
7. Xiren Zhang, Bincheng Li, and Xianming Liu, Accuracy analysis for the determination of electronic transport properties of Si wafers using modulated free carrier absorption，J. Appl. Phys. 2008, 104, 103705-1-103705-7(SCI源刊).
8. Chunming Gao, Bincheng Li, and Xiren Zhang, Time-domain modulated free-carrier absorption measurements of the recombination process in silicon, Eur. Phys. J. Special Topics, 2008, 153, 275-277 (SCI源刊).
9. Xianming Liu, Bincheng Li, and Xiren Zhang,Photocarrier radiometric and ellipsometric characterization of ion-implanted silicon wafers，J. Appl. Phys., 2008, 103, 123706 (SCI源刊).
10. 張希仁，李斌成，自由載流子吸收測量半導體電子輸運特性 [C]，中國光學學會2006年學術大會論文摘要集，2006, 09-P46.