干涉比長儀（interference comparator）是2019年發布的物理學名詞。
基本介紹
- 中文名：干涉比長儀
- 外文名：interference comparator
- 所屬學科：物理學
- 公布時間：2019年
公布時間,出處,
公布時間
2019年經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。
出處
《物理學名詞》第三版。
干涉比長儀
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檢定標尺用的光電比長儀一般能達到檢定精度為±0.5微米。而我國有關計量單位已研製出雷射干涉比長儀，測量1米範圍的精度可達到±0.2微米。機械結構 尺座的機械結構應保證標尺固定可靠又不產生內應力，並且刻劃面與光軸垂直、刻線與標尺...
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根據標準器選取和測量方式的不同，線紋尺的檢定方法可分為兩種形式：以雷射干涉儀直接檢定和以二等金屬線紋尺比較檢定。直接檢定是以雷射波長作為標準，比較檢定是以實物量具即二等金屬線紋尺作為標準。直接檢定由於其雷射的光路必須與...
