基本原理
具有不同自由電子束和逸出功的兩種金屬接觸會產生電動勢。如圖所示,當A金屬絲和B金屬絲焊接後組成閉合迴路,如果兩焊點的溫度t
1和t
2不同就會產生溫差電動勢,閉合迴路有電流流動,檢流計指針偏轉。溫差電動勢的大小與t
1、t
2 成正比。將兩根不同的金屬絲A和金屬絲B以一端相焊接,置於需測溫部位;另一端置於冰水環境中,並以導線與檢流計相連,所得的溫差電動勢近似與熱端的溫度成正比,構成用於測溫的熱電偶。將兩個反極性的熱電偶串聯起來,就構成了可用於測定兩個熱源之間溫差的溫差熱電偶。將溫差熱電偶的一個熱端插在被測試樣品中,另一端插在待測溫度區間不發生熱效應的參比物中,將式樣和參比物同時升溫,測定升溫過程中兩者的溫度差,這就是差熱分析的基本原理。
差熱分析是在程式控制溫度下,測量物質與參比物之間的溫度差與溫度關係的一種技術。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫差(△T)隨溫度或時間的變化關係。在差熱分析試驗中,樣品溫度的變化是由於相轉變或反應的吸熱或放熱效應引起的。差熱分析的基本原理如圖所示。
差熱分析的儀器結構簡介
典型的差熱分析裝置如圖所示。基本由以下幾部分組成:
(1)溫度程式控制單元
使爐溫按給定的程式方式(升溫、降溫、恆溫、循環)以一定速度上升、下降或恆定。
(2)差熱放大單元
用以放大溫差電勢,由於記錄儀量程為毫伏級,而差熱分析中溫差信號很小,一般只有幾微伏到幾十微伏,因此差熱信號須經放大後再送入記錄儀中記錄。
(3)記錄單元
由雙筆自動記錄儀將測溫信號和溫差信號同時記錄下來。
在進行差熱分析過程中,如果升溫時試樣沒有熱效應,則溫差電勢應為常數,差熱曲線為一直線,稱為基線。但是由於兩個熱電偶的熱電勢和熱容量以及坩堝形態、位置等不可能完全對稱,在溫度變化時仍有不對稱電勢產生。此電勢隨溫度升高而變化,造成基線不直,這時可以用斜率調整線路加以調整。方法是:坩堝內不放參比物和樣品,將差熱放大量程置於100μV,升溫速度置於10℃/min,用移位旋鈕使溫差記錄筆處於記錄紙中部,這時記錄筆應畫出一條直線。在升溫過程中如果基線偏離原來的位置,則主要是由於熱電偶不對稱電勢引起基線漂移。待爐溫升到750度時,通過斜率調整旋鈕校正到原來位置即可。此外,基線漂移還和樣品桿的位置、坩堝位置、坩堝的幾何尺寸等因素有關。
影響差熱分析的主要因素
差熱分析操作簡單,但在實際工作中往往發現同一試樣在不同儀器上測量,或不同的人在同一儀器上測量,所得到的差熱曲線結果有差異。峰的最高溫度、形狀、面積和峰值大小都會發生一定變化。其主要原因是因為熱量與許多因素有關,傳熱情況比較複雜所造成的。一般說來,一是儀器,二是樣品。雖然影響因素很多,但只要嚴格控制某種條件,仍可獲得較好的重現性。
氣氛和壓力的選擇
氣氛和壓力可以影響樣品化學反應和物理變化的平衡溫度、峰形。因此,必須根據樣品的性質選擇適當的氣氛和壓力,有的樣品易氧化,可以通入N2、Ne等惰性氣體。
升溫速率的影響和選擇
升溫速率不僅影響峰溫的位置,而且影響峰面積的大小,一般來說,在較快的升溫速率下峰面積變大,峰變尖銳。但是快的升溫速率使試樣分解偏離平衡條件的程度也大,因而易使基線漂移。更主要的可能導致相鄰兩個峰重疊,分辨力下降。較慢的升溫速率,基線漂移小,使體系接近平衡條件,得到寬而淺的峰,也能使相鄰兩峰更好地分離,因而分辨力高。但測定時間長,需要儀器的靈敏度高。一般情況下選擇8℃/ min~12℃/ min為宜。
試樣的預處理及用量
試樣用量大,易使相鄰兩峰重疊,降低了分辨力。一般儘可能減少用量,最多大至毫克。樣品的顆粒度在100目~200目左右,顆粒小可以改善導熱條件,但太細可能會破壞樣品的結晶度。對易分解產生氣體的樣品,顆粒應大一些。參比物的顆粒、裝填情況及緊密程度應與試樣一致,以減少基線的漂移。
參比物的選擇
要獲得平穩的基線,參比物的選擇很重要。要求參比物在加熱或冷卻過程中不發生任何變化,在整個升溫過程中參比物的比熱、導熱係數、粒度儘可能與試樣一致或相近。常用- Al2O3或煅燒過的氧化鎂(MgO)或石英砂作參比物。如分析試樣為金屬,也可以用金屬鎳粉作參比物。如果試樣與參比物的熱性質相差很遠,則可用稀釋試樣的方法解決,主要是減少反應劇烈程度;如果試樣加熱過程中有氣體產生時,可以減少氣體大量出現,以免使試樣衝出。選擇的稀釋劑不能與試樣有任何化學反應或催化反應,常用的稀釋劑有SiC、鐵粉、Fe2O3、玻璃珠Al2O等。
紙速的選擇
在相同的實驗條件下,同一試樣如走紙速度快,峰的面積大,但峰的形狀平坦,誤差小;走紙速率小,峰面積小。因此,要根據不同樣品選擇適當的走紙速度。不同條件的選擇都會影響差熱曲線,除上述外還有許多因素,諸如樣品管的材料、大小和形狀、熱電偶的材質以及熱電偶插在試樣和參比物中的位置等。市售的差熱儀,以上因素都已固定,但自己裝配的差熱儀則需要考慮這些因素。