《工業級高可靠積體電路評價第4部分： 非易失性存儲器》是2020年06月08日實施的一項行業標準。
基本介紹
- 中文名：工業級高可靠積體電路評價第4部分： 非易失性存儲器
- 標準編號：T/CIE 070—2020
- 發布日期：2020年06月08日
- 實施日期：2020年08月15日
起草人,起草單位,主要內容,
起草人
趙東艷、王于波、陳燕寧、邵瑾、張相飛、張鵬、張海峰、何凡、高小飛、朱松超、趙揚、孫雲龍、鐘明琛、胡雪、王東山、潘成、夏軍虎、周芝梅、張永峰、王宏光、任軍、趙陽、易君謂、張健、張志宇、錢文生、吳漢明、宮芳、黃強、吳峰霞、胡杰。
起草單位
北京芯可鑑科技有限公司、北京智芯微電子科技有限公司、杭州萬高科技股份有限公司、國網思極紫光（青島）微電子科技有限公司、北京銀聯金卡科技有限公司、辰芯科技有限公司、北京全路通信信號研究設計院有限公司、中國鐵道科學研究院集團有限公司通信信號研究所、中車株洲電力機車研究所有限公司、北京博納電氣股份有限公司、深圳市力合微電子有限公司、上海華虹宏力半導體製造有限公司、芯創智(北京)微電子有限公司、通富微電子股份有限公司、中國石油天然氣股份有限公司石油化工研究院。
主要內容
本檔案規定了工業級高可靠非易失性存儲器中的快閃記憶體晶片（以下簡稱晶片）的檢測要求、檢測方法和檢驗規則等，暫不涉及ROM。
本檔案適用於工業級高可靠快閃記憶體晶片以及內嵌非易失性存儲器晶片的鑑定驗收和評價檢測活動。
