宇航用半導體積體電路單粒子軟錯誤時域測試方法

《宇航用半導體積體電路單粒子軟錯誤時域測試方法》是2024年1月1日開始實施的一項中國國家標準。

基本介紹

• 中文名：宇航用半導體積體電路單粒子軟錯誤時域測試方法
• 外文名：Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit
• 標準類別：方法
• 標準號：GB/T 43226-2023

編制進程

2023年9月7日，《宇航用半導體積體電路單粒子軟錯誤時域測試方法》發布。

2024年1月1日，《宇航用半導體積體電路單粒子軟錯誤時域測試方法》實施。

起草工作

主要起草單位：北京微電子技術研究所、中國航天電子技術研究院。

主要起草人：趙元富、陳雷、王亮、岳素格、鄭宏超、李哲、林建京、李永峰、陳淼、王漢寧。