多功能缺陷螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、物理學領域的分析儀器，於2019年3月13日啟用。
基本介紹
- 中文名：多功能缺陷螢光光譜儀
- 產地：中國
- 學科領域：化學、材料科學、物理學
- 啟用日期：2019年3月13日
- 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
1、配置紫外可見CCD探測器波長測量範圍不窄於350－1000 nm；2、 IFC PMT探測器光譜回響範圍不窄於300 -650 nm；3、單光子PMT探測器光譜回響範圍不窄於300 -650 nm；4、低/高溫線性加熱器溫度測量範圍不窄於：80K－773K；5、X光管功率≥4 W且工作時長在4000 h以上；6、連續譜光源波長範圍不窄於：220-800 nm，工作時長在1000 h以上；7、軟體要求：全自動化控制，。
主要功能
，1、 熱釋光三維光譜；2、熱釋光發光曲線；3、光釋光三維光譜；4、光釋光發光曲線；5、輻射發光光譜測量；6、餘輝衰減光譜測量；7、餘輝衰減曲線測量；8、X射線螢光譜測量。9、軟體分析熱釋光動力學程式，直觀獲得陷阱深度、頻率因子、動力學級數等參數。
