基於有機襯底的全透明柔性非晶ZnSiSnO薄膜電晶體研究

《基於有機襯底的全透明柔性非晶ZnSiSnO薄膜電晶體研究》是依託浙江大學,由呂建國擔任項目負責人的面上項目。

基本介紹

  • 中文名:基於有機襯底的全透明柔性非晶ZnSiSnO薄膜電晶體研究
  • 依託單位:浙江大學
  • 項目負責人:呂建國
  • 項目類別:面上項目
項目摘要,結題摘要,

項目摘要

隨著顯示技術發展,基於非晶氧化物的全透明柔性薄膜電晶體(TFT)成為研究熱點。本項目提出一種無In的ZnSiSnO非晶半導體新材料,以全透明柔性ZnSiSnO TFT關鍵技術為核心開展研究。利用磁控濺射方法,採用創新的低溫加熱與電漿處理技術,設計Al2O3-TiO2(ATO)阻隔與緩衝層,最佳化工藝,室溫生長高質量非晶ZnSiSnO薄膜;基於第一性原理方法,進行理論分析,揭示ZnSiSnO性能穩定機制。以PET為有機襯底,ATO為絕緣層,非晶ZnSiSnO為溝道層,Al摻雜ZnO為柵極、源極和漏極,室溫製備ZnSiSnO TFT,採用創新的瞬時脈衝雷射退火技術,提高器件性能。理論與實驗相結合,系統研究材料和器件的電學、光學、結構和力學性能及其穩定性,揭示內在規律,研製高性能的全透明柔性ZnSiSnO TFT。本項目研究將促進透明電子學的發展,為新一代柔性顯示器件提供關鍵材料和技術支持。

結題摘要

隨著顯示技術發展,基於非晶氧化物的全透明柔性薄膜電晶體(TFT)成為研究熱點。本項目提出了無In的ZnMSnO(M=Si、Al、Nb、Ti)新型非晶氧化物半導體(AOS)材料體系,以無銦AOS薄膜與透明柔性TFT關鍵技術為核心開展研究。利用磁控濺射、脈衝雷射沉積、溶液燃燒等方法,生長出非晶ZnMSnO(M=Si、Al、Nb、Ti)薄膜;基於第一性原理方法,進行理論分析,揭示ZnMSnO的性能及其穩定機制;採用創新的低溫加熱與電漿處理技術,設計Al2O3-TiO2(ATO)阻隔與緩衝層,最佳化工藝,室溫生長高質量非晶ZnMSnO薄膜;以PET為有機襯底,ATO為絕緣層,非晶ZnMSnO為溝道層,Al摻雜ZnO為柵極、源極和漏極,室溫製備ZnMSnO TFT,採用創新的瞬時脈衝雷射退火技術,提高器件性能。基於研究中的發現,重點開展了ZnAlSnO TFT的研究。理論與實驗相結合,系統研究材料和器件的電學、光學、結構和力學性能,系統評估了AOS TFT在各種環境中的穩定性和耐候性,揭示內在規律。研製出高性能的無In的ZnMSnO TFT,非晶ZnMSnO薄膜電阻率可在10^5-10^6 Ωcm有效調控,可見光透過率可達93%;透明柔性TFT場效應遷移率15.6 cm^2/Vs,開/關電流比高於10^7量級,閾值電壓約3.2 V,亞閾值擺幅0.54 V/decade,漏電流在10^-12 A量級,器件的可見光透過率86%,具有良好的彎曲穩定性。本項目研究為AOS TFT的套用奠定了基礎,促進了透明電子學的發展,為新一代透明顯示和柔性顯示提供關鍵材料和技術。

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