基於專利子網結構指標的科學計量方法研究

基於專利子網結構指標的科學計量方法研究

《基於專利子網結構指標的科學計量方法研究》是依託浙江大學,由胡小君擔任項目負責人的面上項目。

基本介紹

  • 中文名:基於專利子網結構指標的科學計量方法研究
  • 依託單位:浙江大學
  • 項目負責人:胡小君
  • 項目類別:面上項目
項目摘要,結題摘要,

項目摘要

作為技術創新的一種表現形式, 專利已經成為國與國之間競爭力評價的指標之一。對專利的創新含量及其開發前景做出定量化的科學評估與預測,加強專利管理和專利運用的政策措施,是我國當前的工作重點,也是全球專利計量學面臨的挑戰。本項目將突破專利計量分析的現有框架,首次提出專利子網結構指標概念,探索並建立具有原創特色的一套能映射專利技術價值的科學計量方法。 研究中將專利技術價值評價與動態專利引用網路中的專利子網結構相對接, 從專利引證的特異性為突破點,借鑑圖論、向心引用網路理論、數學、彌散理論、技術創新管理理論,探索專利技術價值在專利引用網路中的映射機理和算法機理;並運用實證分析,科學的定性與定量方法,研究和建立基於專利子網結構指標的科學計量模型。 為指導專利技術引進交易中的技術價值評估和失效專利的開發價值評估,進行科學的定量化分析,提供科學的理論指導與方法工具。

結題摘要

本研究將專利技術價值評價與動態專利引用網路中的專利子網結構相對接, 並將現實世界專利技術價值測量與專利子網結構特性分析相聯繫, 原創性地提出用專利子網結構指標評估某個專利的技術價值,構建了“目標專利-相似技術-大技術環境”(TSU)的方法體系, 闡明了“專利技術價值”在專利引用網路中的映射機理, 提出了系列化專利結構指標的科學定義,如從單件專利水平上衡量其技術價值的專利外部生長指數OIp、技術收益指數TII、技術跨度指數TSI、技術活躍度TAD、技術延伸影響相對指數The CC-index、 技術延伸基礎相對指數The RC-index、技術積累基礎相對指數The RR-index; 從公司水平測量批量專利創新活動及其技術整合與技術彌散寬度的IPCh與cIPCh指數, 以及評估企業專利創新綜合實力的“研究與創造力協同指”HRC指數。 此外,提出了動態測度指標如h核間隔、h核裂縫、以及相對h核裂縫的測度和定義,提出了一種基於動態引用窗的觀察引用行為內部差異變化的D-序列、和兩種新的時間序列〖R1〗_j^Y與〖R2〗_j^Y。 經過嚴格抽樣設計的生物製藥行業世界500強企業的十六年專利數據及其相應年度利潤的實證分析和蒙特卡羅模擬,本研究提出的系列指標,除兩個專利二代引用相對指數CC和RR與專利權人的利潤呈臨界統計相關(p值分別為0.054和0.075)外,專利外部生長指數OIp、技術收益指數TII、技術跨度指數TSI、技術活躍度TAD、 技術延伸基礎相對指數The RC-index,與專利權人的利潤呈顯著統計相關(p<0.05); 企業專利的 IPCh與cIPCh指數與該公司的利潤具有顯著統計性(P = 0.001)。 本研究得出的系列結果和結論,具有原創性,不僅豐富了科學計量理論和專利價值評估的測度, 又可以為專利技術引進交易中的技術參數評估及指導失效專利的開發,提供科學的理論指導和方法工具: 即某專利所具有的OIp、TII、TSI、TAD、 和RC指數越高, 其內在專利技術價值越高; 而兩個專利二代引用相對指數CC和RR,在映射專利技術價值上,宜賦以較低權重並作為參考。 此外, 某公司的IPCh和cIPCh越高,其潛在的行業占有份額和影響力越大。

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