基帶表面粗糙檢測系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2015年3月20日啟用。
基本介紹
- 中文名：基帶表面粗糙檢測系統
- 產地：德國
- 學科領域：物理學、材料科學
- 啟用日期：2015年3月20日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
原子力顯微鏡是將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由於針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時控制這種力的恆定，帶有針尖的微懸臂將對應於針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直於樣品的表面方向起伏運動。利用光學檢測法或隧道電流檢測法，可測得微懸臂對應於掃描各點的位置變化，從而可以獲得樣品表面形貌的信息。
主要功能
主要功能有：觀察物體表面形貌，測量物體表面粗糙度，觀測生物細胞以及生物大分子的表面形態，生物分子之間力譜曲線的觀測。
