固體分析質譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於1984年03月01日啟用。
基本介紹
- 中文名:固體分析質譜儀
- 產地:中國
- 學科領域:地球科學
- 啟用日期:1984年03月01日
- 所屬類別:分析儀器 > 質譜儀器 > 無機質譜儀
固體分析質譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於1984年03月01日啟用。
固體分析質譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於1984年03月01日啟用。技術指標質量數範圍:5-467el,加速電壓:10kv,分辨本領:>400(取10%峰高處的峰寬),靈敏度:2×10-6 ,測試精度:1×10...
分為火花源質譜儀、離子探針質譜儀、雷射探針質譜儀、輝光放電質譜儀、電感耦合電漿質譜儀。火花源質譜儀不僅可以進行固體樣品的整體分析,而且可以進行表面和逐層分析甚至液體分析;雷射探針質譜儀可進行表面和縱深分析;輝光放電質譜儀解析度高,可進行高靈敏度,高精度分析,適用範圍包括元素周期表中絕大多數元素,...
固體同位素質譜儀 固體同位素質譜儀是一種用於化學、地球科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2002年11月1日啟用。技術指標 143Nd/144Nd誤差<5ppm;87Sr/86Sr<10ppm;206Pb/204Pb<0.2%;11B/10B<1‰。主要功能 進行B、Li、Rb-Sr、Sm-Nd、Re-Os、Pb同位素分析測試。
輝光質譜儀是套用於痕量到常量範圍內元素的固體形式的直接分析和深度分布分析的儀器。主要用途: 主要套用於痕量到常量範圍內元素的固體形式的直接分析和深度分布分析。 元素分析:整個周期表內的元素均可檢測分析,分析對象可以為高純材料、鋼鐵、合金、玻璃粉末和陶瓷粉末等,尤其適合於4N-5N純金屬材料的雜質元素的分析...
熱電離型質譜計是採用熱表面電離型離子源用作固體同位素分析和化學分析的質譜計。用來測量質譜的儀器稱為質譜儀,可以分成三個部分:離子化器、質量分析器與偵測器。其基本原理是使試樣中的成分在離子化器中發生電離,生成不同荷質比的帶正電荷離子,經加速電場的作用,形成離子束,進入質量分析器。質譜(又叫質譜法...
按工作原理可分為靜態儀器和動態儀器。特點 1. 準確度高:能夠測定非常準確的分子量,確定分子式。2. 靈敏度高、樣品用量小、分析速度快。3. 分析範圍廣(氣體、液體、固體)。4. 可對物質的組成和結構進行定性檢測。5. 它可以確定分子式。注意事項 1. 質譜儀的真空度不能過低。過低會導致:1) 大量氧會燒壞...
固體表面分析儀是科研人員在化學與材料科學領域內改善和調整表面特性,設計新型、特定性質的材料,如聚合物、紡織、陶瓷、玻璃、或表面活性劑等。通過測量巨觀固體物表面的流動電流或流動電壓(電勢),儀器給出了ZETA電位這樣一個重要的信息。固體表面分析儀是一種界面特性,這對於理解固體材料在很多工藝技術處理方面非常...
解析度:優於4000; 分析速度:快速,一次可給出多量、少量、痕量及超痕量多元素分析結果 精密度:高。主要功能 固體樣品直接分析,是固體材料多元素分析尤其是高純材料分析強有力的工具。另外,該儀器配有射頻源(rf),可實現非導體樣品(晶體、陶瓷等)直接分析;同時,depth-profile功能可對雜質元素進行深度剖析。
固體源同位素質譜計,測定金屬及稀土元素的同位素組成。主要用途: 1.測定金屬,鹼金屬及稀土元素的同位素組成 2.在同位素地質年代學研究中可測定同位素組成及含量,以研究地質演化歷史 3.測定元素原子量 4.測定核子反應產物的同位素組成 指標信息: 1.解析度:>500(10%峰谷定義) 2.質量範圍:3~280u(10kV加速電壓...
火花源質譜法是進行無機成分分析的質譜分析技術。用高頻火花作為離子源,具有靈敏度高、選擇效應小、結構簡單等優點,特別適用於固體樣品分析。由於火花源能量分散大,離子流不穩定,所以分析器一般均採用馬陶赫—赫佐格型雙聚焦離子光學系統。照相感光板多被用來記錄同位素譜線,但也有採用電測方式。火花源質譜法幾乎能...
扇形磁場質譜計,質譜分析儀器中最基本的一種,又稱扇形磁質譜計。產品簡介 氣體分子或液體、固體的蒸氣分子受到具有一定能量的高速電子流轟擊後,分子變成帶正電荷的陽離子,稱為分子離子。電場或磁場的作用使離子加速,電場強度越大,電場內的陽離子速度越大。帶正電荷的離子在磁場內運動時,也會因磁場的作用而加速...
質譜分析是一種測量離子質荷比(質量-電荷比)的分析方法,其基本原理是使試樣中各組分在離子源中發生電離,生成不同荷質比的帶電荷的離子,經加速電場的作用,形成離子束,進入質量分析器。在質量分析器中,再利用電場和磁場使發生相反的速度色散,將它們分別聚焦而得到質譜圖,從而確定其質量。第一台質譜儀是英國...
熱電離質譜計 熱電離質譜計是2003年公布的機械工程名詞。定義 採用熱表面電離型離子源用作固體同位素分析和化學分析的質譜計。出處 《機械工程名詞 第三分冊》。
2000 HT/EA)、多用途樣品製備裝置(GasBench-Ⅱ)、GC-Isolink氣相色譜儀(Trace GC 2000型)等,可以分析植物、動物、土壤、沉積物、碳酸鹽、水樣、氣體等各種類型樣品中的C、N、H、O和S等常見元素的穩定同位素比值及其元素組成動植物、土壤、提取物等固體樣品的C、N和 S同位素比值及其元素含量動植物、土壤固體...
與扇形磁場儀器相類似的是,這些儀器需要在高一次離子電流下操作,且通常被認為是“動態二次離子質譜”儀器(比如用於濺射深度剖析和/或固體樣品的總量分析)。如今,儘管這些設計在SIMS界最為常見,但仍有許多令人興奮的新設計正不斷出現,它們在未來可能會發揮更重要的作用。這些新設計包括多種質譜儀中的連續離子束...
雷射探針質譜計 雷射探針質譜計是2003年公布的機械工程名詞。定義 利用雷射束作為探針,使固體試樣蒸發和電離,從而進行質譜分析的質譜計。出處 《機械工程名詞 第三分冊》。
450℃, 升溫速率:0.1~120℃/min 降溫速率:450~45℃<250s; 最大運行時間:999.99min, 2.質譜儀: 質量數範圍:1.6~1050amu, 最大掃描速率:10000amu/s, 氣質接口溫度:100~350℃。主要功能 7683B 自動進樣器 自動進樣 7694E 頂空進樣器 分析氣態樣品 HPP7 固體進樣桿 質譜固體進樣。
從分離裝置來的組分(氣體或者液體)或者從直接進樣桿進液體或者固體樣品。(三)、離子源 離子源: 主要作用是使欲分析的 樣品實現離子化,尤其是中性物質帶上電荷。樣品本身性質的差異,決定了離子化的方式不能有萬能的離子源,離子源的類型也是多種多樣。(四)、質量分析器 質量分析器是質譜儀的核心部件,因此...
本儀器結合了元素分析儀和同位素質譜儀的性能為一身,既可以測定土壤和植株等固體物質中總氮、總碳,同時也可以進行氮、碳、硫的穩定同位素比值分析,該儀器主要特點是快速準確且所用樣品量較少,varioIsotopecubeEA與IsoPrime100聯合使用對於大範圍濃度變化樣品有很好的分析性能,所能檢測的樣品為固體樣和氣體樣。
元素分析-同位素質譜聯用儀主要具有測定快速準確,所用樣品量少等特點。此儀器同時結合了元素分析儀和同位素比值質譜儀的性能,既可以用於單一測定土壤和植株等固體樣品中總氮百分含量和氮同位素比值以及總碳百分含量和碳同位素比值,也可以同時進行氮、碳雙元素的含量和穩定性同位素比值分析。儀器廣泛套用於土壤學、植物學...
樣本製備過程是影響質譜成像結果真實性和準確性的關鍵環節,其處理方法和技術與待測物自身的性質、所處的樣本類型和狀態密切相關。通常,MSI技術用於藥學研究多以動物、組織、細胞和固體製劑作為分析對象。收集與固定 恰當而迅速的樣本收集與固定是維持樣本中分子或離子的真實空間分布和豐度的保證。一般常用頸椎脫臼、斷頭...
安捷倫電感耦合電漿質譜儀7850 ICP-MS 使用安捷倫 7850 ICP-MS 避免 ICP-MS 分析中常見的時間陷阱。這一智慧型方法可減少時間浪費,讓工作人員可以專注於工作。7850 ICP-MS 是一款能夠處理固體含量高達 25% 的樣品的 ICP 質譜儀,可減少費時的稀釋步驟。這款儀器具有氦模式碰撞池和半質量校正功能,可避免多原子...
獨立控溫,最高不低於350℃ 質量分析器:需具有強抗污染能力。 檢測器動態範圍:≥5×106。主要功能 可以測定揮發、半揮發性有機化合物,如苯系物、鹵代烴等VOCs,酞酸酯、多環芳烴等,以及有機化合物定性分析。配備有頂空、液體進樣和固體熱裂解進樣,可實現多維氣相色譜分離以增加複雜樣品的分離能力。
能測定的同位素幾乎涵蓋了周期表中所有的元素,且擁有目前最高的質量解析度和測量精度。目前,對Sr、Nd、Hf、Si、Mg、B、Li、Mo等同位素測定和研究已經比較廣泛。 2、LA-MC-ICPMS的聯用能夠對單礦物顆粒等固體樣品進行原位微區同位素分析 目前已經廣泛開展研究的同位素有Hf、B、Sr、Cu、Fe、S等。
以能量為103電子伏的惰性氣體離子轟擊表面,再用質譜儀分析從表面濺射出來的二次離子,就可確定表面成分,SINS具有極高的分析靈敏度。掃描隧道顯微鏡(STM)以很細的金屬探針接近固體表面時,固體中的電子藉助於隧道效應克服表面勢壘到達探針,從而形成隧道電流。隧道電流的大小取決於針尖至表面原子的距離,距離近時電流大...
於2017年10月30日啟用。技術指標 193 nm空氣冷卻氣態準分子雷射源。 能量密度:1-15 J/cm2。 剝蝕頻率:1-250 Hz。 剝蝕模式:四種雷射剝蝕模式可以任意切換,單點、連續、多點和混合四種模式。 剝蝕斑點尺寸:1 μm ~ 160 μm。主要功能 主要功能是與質譜儀聯用,進行固體樣品的定性與半定量分析。
次離子質譜法是指當初級離子束(Ar+,O2+,N2+, O-,F-,N -或Cs+等) 轟擊固體試樣表面時,它可以從表面濺射出各種類型的二次離子,利用離子在電場,磁場或自由空間中的運動規律,通過質量分析器,可以使不同質荷比的離子分開,經分別計數後可得到二次離子強度-質荷比關係曲線的分析方法。離子源用以獲得離子...
研究樣品表面的組成或成分的橫向分布,包括離子圖象觀察、表面分析和表面濃度分布。離子圖象可以提供樣品表面元素濃度分布和化合物分布的信息,表面分析是研究分析面內總的組成特徵。③縱深分析。將質譜儀調到檢測特定的二次離子條件下,利用一次離子束的剝蝕作用,記錄二次離子強度隨剝蝕時間的變化,從而得到自固體表層開始...
GDMS 是輝光放電質譜法(glow discharge mass spectrometry)的簡稱。是利用輝光放電源作為離子源與質譜儀器聯接進行質譜測定的一種分析方法。GDMS在多個學科領域均獲得重要套用。在材料科學領域, GDMS成為反應性和非反應性電漿沉積過程的控制和表征的工具。GDMS已成為無機固體材料,尤其是高純材料雜質成分分析的強有力...
該儀器具有全組分高通量、實時線上、快速準確定量分析的能力。通過將飛行時間質譜技術與複合光電離技術的有機結合,解決了傳統VOCs檢測儀在分析速度、操作難度、分析準確度等方面問題,可廣泛套用於石油化工、環境走航監測、食品藥品、過程監測、質量控制、生物醫學研究等領域。QGA 200 線上氣體分析質譜儀 線上氣體分析質譜...