半導體直流參數測試儀是一種用於物理學、材料科學、動力與電氣工程領域的計量儀器，於2013年7月5日啟用。
基本介紹
- 中文名：半導體直流參數測試儀
- 產地：美國
- 學科領域：物理學、材料科學、動力與電氣工程
- 啟用日期：2013年7月5日
- 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 雙頻雷射干涉儀
技術指標,主要功能,
技術指標
基於PC的儀器，具有WindowsXPprofessional作業系統通過DesktopEasyEXPERT軟體進行離線數據分析和套用測試開發。針對電流-電壓（IV）,電容-電壓（CV）,脈衝生成，快速IV和時域生成，快速IV和時域測量的綜合解決方案用於電源監測單元（SMU）和其他模組類型（MFCMU，HV-SPGU和WGFMU）的模組插槽0.1fA和0.5μV電流-電壓（IV）測量，大功率和存儲器測試的高壓脈衝生成（高達±40V）功能支持準靜態和中頻電容-電壓（CV）測量。
主要功能
半導體直流參數測試儀是研究半導體的運輸性質的重要設備，主要對半導體器件進行電流-電壓，電容-電壓等參數測量。
