半導體特性測試系統

半導體特性測試系統是一種用於物理學領域的電子測量儀器，於2011年7月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：半導體特性測試系統
• 產地：美國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2011年7月1日
• 所屬類別：電子測量儀器 > 通用電子測量儀器 > 積體電路測試儀

技術指標

最小測試電流fA。

主要功能

I-V測試。