半導體熱特性測試儀是一種用於物理學領域的分析儀器，於2012年01月17日啟用。
基本介紹
- 中文名：半導體熱特性測試儀
- 產地：匈牙利
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2012年01月17日
- 所屬類別：分析儀器 > 熱分析儀器 > 導熱係數測定儀
技術指標,主要功能,
技術指標
最大輸出電流10A，輸出電壓100V，測試延遲時間1微秒，最小採樣時間1微秒，測試通道2個。 溫度範圍：-28～200℃，溫度穩定性：±0.01℃；散熱功率8W。 充液體積：4.5 L油浴槽體積（W×L×H）：≥12cm×14cm×14cm。 配套電源輸出電壓150V，輸出電流10A。
主要功能
T3Ster熱測試儀—熱測試當中的“X射線”： T3Ster 是MENROT研發製造的先進的熱測試儀，用於測試IC、LED、散熱器、熱管等電子器件的熱特性。T3Ster運用先進的JEDEC靜態試驗方法（JESD51-1），通過改變電子器件的的輸入功率，使得器件產生溫度變化，在變化過程中，T3Ster測試出晶片的瞬態溫度回響 曲線，僅在幾分鐘之內即可分析得到關於該電子器件的全 T3Ster熱測試設備 面的熱特性。
