《半導體器件典型缺陷分析和圖例》是科學普及（中國科技）出版社出版的圖書，作者是張延偉。 基本介紹 中文名：半導體器件典型缺陷分析和圖例 作者：張延偉出版社：科學普及（中國科技）出版社ISBN：9787504637833定價：80.0 元
