半導體光譜分析與擬合計算

內容簡介

陸衛等編著的《半導體光譜分析與擬合計算(附光碟)(精)》涉及的範圍為半導體線性光學性質範疇內最常用的幾種光譜分析：透射光譜與反射光譜、光螢光光譜、調製光譜等。為了讓讀者對半導體光譜模型與套用有一個比較完整的了解，本書的第1章介紹了光譜測量中的一些基本問題，第2章簡要地給出了建立光譜模型所依賴的半導體物理以及電磁場理論基礎。第3章一第5章全面描述了幾種光譜分析的基本模型和套用。為了使讀者能更好地理解物理模型與電腦程式套用，這些章節還給出了實用範例，並將這些範例與半導體材料、器件的最新研究進展相結合，以便讀者了解相關領域的一些新進展。第6章介紹了綜合利用不同光譜對量子阱紅外探測器的性能進行表征。第7章介紹了本書電腦程式中的擬合計算方法所採用的新計算途徑以及本書涉及的光譜擬合電腦程式的使用方法及要點。附錄給出了與光譜性質有關的物理常量和常用半導體物理性質。本書附有包含所有應用程式的光碟。

《半導體光譜分析與擬合計算》總結了作者多年來在半導體光譜方面的研究工作，致力於光譜特點的分析，用量子力學以及必要的計算機手段萃取了光譜所反映的物質微觀層次的本性。提供的電腦程式以及相關的例子將有助於讀者邊學習邊套用。可以預見將卓有成效地提高讀者分析光譜的理論水平與實際能力。

圖書目錄

第1章光譜的測量
1.1稜鏡分光
1.2光柵分光
1.3傅立葉變換分光
1.4基於傅立葉變換光譜的調製光譜
1.5光譜測量技巧拾零
參考文獻
第2章半導體物理基礎和光學特性
2.1半導體及其納米結構
2.2包絡函式及有效質量近似
2.3晶格振動和聲子譜
2.4光電相互作用和半導體光譜
2.5有效介電常數和光譜分析
參考文獻
第3章透射光譜與反射光譜
3.1基本概念與原理
3.2薄膜樣品的透射光譜與反射光譜
3.3晶格振動紅外反射光譜l——贗諧振子模型
3.4晶格振動紅外反射光譜Il——Kramers—Kronig關係
3.5贗諧振子模型與Kramers—Kroni9關係綜合套用
3.6薄膜材料的晶格振動與載流子特性表征
參考文獻
第4章光螢光光譜
4.1基本概念與原理
4.2帶間螢光光譜
4.3低維材料的電子態和光躍遷
4.4量子線材料的螢光光譜
4.5量子點的螢光光譜
參考文獻
第5章調製光譜
5.1光調製光譜
5.2熱調製光譜
5.3壓電調製光譜
參考文獻
第6章量子阱紅外探測器的光譜表征
6.1螢光光譜
6.2光調製反射譜
6.3量子阱結構厚度無損檢測法
6.4光電導譜
6.5 自由電子雷射激發下的光電流
參考文獻
第7章數值方法與計算程式
7.1光譜分析中的全域最小值求解
7.2一維薛丁格方程的傳輸矩陣求解
7.3 由實驗遠紅外反射、透射光強求遠紅外反射率、透射率：IRRT
7.4贗諧振子模型擬合紅外反射光譜：IRREFL
7.5 Kramers—Kroni9光譜分析：KK
7.6光譜高斯一洛倫茲線形擬合：GLN
7.7調製反射光譜洛倫茲線形擬合：PRLOREN
7.8調製光譜高斯線形擬合：PRGAUSS
7.9螢光光譜擬合：PL
7.10考慮帶尾態的螢光光譜擬合：TAILPL
7.11轉移矩陣方法：WORK
參考文獻
附錄A 常用物理常量及換算公式
A.1冪次前綴符號
A.2能量表達變換
A.3原子單位、自然單位和量綱
附錄8 常見半導體性質
漢英對照索引

半導體光譜分析與擬合計算

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