基本介紹
- 中文名：剖面控制測量
- 外文名：profile control survey
- 所屬學科：地理學
- 套用學科：測繪科學與技術
釋文：剖面控制測量是在剖面定線測量的基礎上，根據剖面端點和定向點，在剖面線上設定剖面控制點，以及在剖面控制點之間加密測站點的測量工作。
剖面控制測量
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