具有高慢化效率和壽命測量功能的新型正電子束研究

具有高慢化效率和壽命測量功能的新型正電子束研究

《具有高慢化效率和壽命測量功能的新型正電子束研究》是依託武漢大學,由王少階擔任項目負責人的面上項目。

基本介紹

  • 中文名:具有高慢化效率和壽命測量功能的新型正電子束研究
  • 項目類別:面上項目
  • 項目負責人:王少階
  • 依託單位:武漢大學
  • 批准號:10475062
  • 申請代碼:A30
  • 負責人職稱:教授
  • 研究期限:2005-01-01 至 2007-12-31
  • 支持經費:40(萬元)
項目摘要
本項目致力於發展一種具有高慢化效率和正電子壽命測量功能的新型正電子束。主要研究內容為:1、研究高質量固態氖的製備技術和慢化體的幾何設計,力爭將Na-22 放射源發出的高能正電子慢化為幾eV的慢正電子的效率達到約1%;2、研究用正電子入射到樣品表面發射的二次電子作正電子湮沒壽命測量的起始信號,使正電子束具有正電子壽命測量功能和較好的時間解析度;3、將上述兩種技術結合,設計新型正電子束。這種束將具有慢化效率高、正電子束流強、放射源使用期限長,並能測量正電子壽命、都卜勒展寬和符合都卜勒展寬等多種功能。將套用此束來研究如高聚物/金屬塗層(如飛機表面油漆)的表面界面缺陷及早期老化失效的機理,以及在超大規模積體電路有重要作用的低介電常數SiO2 薄膜中的納米孔洞大小、濃度、連通性、孔洞率,並建立介電常數與孔洞特性間的關聯等有重要套用的前沿課題。

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