全自動X光沉降粒度分析儀是一種用於冶金工程技術領域的物理性能測試儀器，於2014年11月3日啟用。
基本介紹
- 中文名：全自動X光沉降粒度分析儀
- 產地：美國
- 學科領域：冶金工程技術
- 啟用日期：2014年11月3日
- 所屬類別：物理性能測試儀器 > 顆粒度測量儀器 > 粒度分布測量儀
技術指標,主要功能,
技術指標
麥克儀器公司的SediGraph是全世界許多實驗室粒度分析的標準儀器。無論是在惡劣的生產環境還是在專業的化驗室，SediGraph憑藉其卓越的可靠性得出精確的測量結果。粒徑分布的測量採用沉降法，顆粒通過直接吸收X射線而被測量。根據Stockes定律，通過測量粒子在液體中的沉降速率，得出粒子粒徑大小，粒徑分析範圍為0.1~300μm。
主要功能
完整的顆粒分析，能夠確保對樣品中的所有顆粒全部進行分析，包括粒徑大於 300μm和小於0.1μm的部分 能夠與其他粒徑測得的數據相結合，使數據報告範圍可擴展至125,000μm (125mm)，在地質學方面具有很好的套用 自下而上地掃描沉降室，能夠準確的獲取沉降顆粒的總數，同時最小化顆粒分離所需的時間 全自動操作模式能夠增加分析樣品總數，並且能夠減少人為操作步驟，以降低由人為操作造成的測量誤差 控溫分析可確保在整個分析過程中液體的性質不發生任何變化，以獲取精確的分。
